NANOHUNTER， 2007 R&D 的赢利地区 100 授予，一个有创新的产品比对前期技术特别地被设计提供全面跟踪材料和设计描述特性分析功能到各种各样的研究学科和在高度不同的分析技术可能的。
仪器实现化学家、地质学家、生物学家、生化学家、工程师和物质科学家的非破坏性的痕量元素分析有最小的对跨过从 metallo 蛋白质研究的应用的没有范例准备到环境估价和半导体片计量学。
这个范例的物理性质的提供的跟踪级的元素分析和评估， NANOHUNTER 使用一个给予专利的可转换的波长，并且自动化的可变的 X-射线入射角励磁设计。 仪器可能学习要素的完全范围，从铝 (Al)到在固体、液体和粉末的铀 (u)。 化工情报也作为分析深度功能为描出材料的表面特性。 例如，为介入纳米技术研究员，此能力使表层中间被分析作为在基体，同源薄膜的残滓，或者作为某事。
NANOHUNTER 的区分是与引人地耦合的等离子光学发射光谱 (ICP-OES) 相似，并且它部分每十亿在 (PPB)一个充分地自动化的工具的级别检测极限提供。 残滓的直接测量在平稳的表面的提供从复杂范例消化或准备的解放并且使此分光仪适用于替换或补充传统基本分光学方法。 当与其他跟踪级别基本分光学技术比较， NANOHUNTER 的革命方面在要求的范例准备的最小的水平。 当使用 NANOHUNTER 时，没有对辅助设备的需要象发烟敞篷和微波消化剂，在一个湿实验室环境里与痕量元素分析相关。
关键功能
NANOHUNTER 的产品功能是：
- 对要素的分析从 Al 到 U
- 16 位置自动取样器
- 最大的灵活性的面朝上的分析
- 接受大范例 (10 x 10 cm 和 5 mm 厚实)
- 在光学上的管使污秽问题减到最小
- 痕量元素分析
- 没有范例消化
- 没有可消耗
- 非破坏性
- 部件每十亿 (PPB)检测极限
- 深度描出的可变倾角角度薄膜
- 优越区分和基本覆盖范围的双重 X光射线管
- Perform 掠入射 X-射线荧光 (GIXRF)分析
- 执行全反射 X-射线荧光 (TXRF)分析
- 变紧密与低功率冲减的 benchtop 设计
- 适用于移动实验室