NANOHUNTER， 2007 R&D 的贏利地區 100 授予，一個有創新的產品比對前期技術特別地被設計提供全面跟蹤材料和設計描述特性分析功能到各種各樣的研究學科和在高度不同的分析技術可能的。
儀器實現化學家、地質學家、生物學家、生化學家、工程師和物質科學家的非破壞性的痕量元素分析有最小的對跨過從 metallo 蛋白質研究的應用的沒有範例準備到環境估價和半導體片計量學。
這個範例的物理性質的提供的跟蹤級的元素分析和評估， NANOHUNTER 使用一個給予專利的可轉換的波長，并且自動化的可變的 X-射線入射角勵磁設計。 儀器可能學習要素的完全範圍，從鋁 (Al)到在固體、液體和粉末的鈾 (u)。 化工情報也作為分析深度功能為描出材料的表面特性。 例如，為介入納米技術研究員，此能力使表層中間被分析作為在基體，同源薄膜的殘滓，或者作為某事。
NANOHUNTER 的區分是與引人地耦合的等離子光學發射光譜 (ICP-OES) 相似，并且它部分每十億在 (PPB)一個充分地自動化的工具的級別檢測極限提供。 殘滓的直接測量在平穩的表面的提供從複雜範例消化或準備的解放并且使此分光儀適用於替換或補充傳統基本分光學方法。 當與其他跟蹤級別基本分光學技術比較， NANOHUNTER 的革命方面在要求的範例準備的最小的水平。 當使用 NANOHUNTER 時，沒有對輔助設備的需要像發煙敞篷和微波消化劑，在一個濕實驗室環境裡與痕量元素分析相關。
關鍵功能
NANOHUNTER 的產品功能是：
- 對要素的分析從 Al 到 U
- 16 位置自動取樣器
- 最大的靈活性的面朝上的分析
- 接受大範例 (10 x 10 cm 和 5 mm 厚實)
- 在光學上的管使汙穢問題減到最小
- 痕量元素分析
- 沒有範例消化
- 沒有可消耗
- 非破壞性
- 部件每十億 (PPB)檢測極限
- 深度描出的可變傾角角度薄膜
- 優越區分和基本覆蓋範圍的雙重 X光射線管
- Perform 掠入射 X-射線熒光 (GIXRF)分析
- 執行全反射 X-射線熒光 (TXRF)分析
- 變緊密與低功率衝減的 benchtop 設計
- 適用於移動實驗室