El espectrómetro dispersivo de la fluorescencia de la Radiografía de la longitud de onda secuencial innovadora de ZSX (WDXRF) 400 de Rigaku fue diseñado exclusivamente para manejar muestras muy grandes y/o pesadas. El instrumento puede validar muestras hasta el diámetro de 400 milímetros, 50 milímetros de espesor y 30 kilogramos de peso, este sistema son ideales para analizar las metas del chisporroteo, discos magnéticos, o para la metrología de la película de múltiples capas o el análisis elemental de muestras grandes.
El ZSX 400 es bastante versátil adaptarse a los tipos específicos de la muestra del cliente y el análisis necesita y se puede adaptar a varios tamaños y dimensiones de una variable de muestra usando los separadores de millares (hechos por encargo) opcionales del adaptador. Con una mancha variable de la medición (diámetro de 30 milímetros a de 0,5 milímetros con la selección automática de 5 pasos de progresión) y la correspondencia de capacidad con mediciones de múltiples puntos para controlar para saber si hay uniformidad de la muestra, este instrumento altamente flexible puede aerodinamizar dramáticamente sus procesos del control de calidad.
El instrumento tiene una cámara en tiempo real opcional, que permite que la punta del análisis sea vista en la pantalla. El operador tiene certeza completa en cuanto a se está midiendo qué.
Todas Las capacidades analíticas de un instrumento tradicional se conservan en esta variante de la “muestra grande”. El Berilio (Be) a través del uranio (u) se puede analizar con espectroscopia de alta resolución, de alta precisión de WDXRF, de los macizo a los líquidos y de los polvos a las películas finas. Los rangos Anchos de la composición (PPM a los diez del por ciento) y los espesores (Å sub al milímetro) pueden también ser analizados. Disponible está Opcionalmente el rechazo máximo de la interferencia de la difracción, para los resultados óptimos para los substratos monocristal. El Rigaku ZSX 400 cumple con los estándares industriales SEMI y el CE.
Características de Producto
Las características dominantes del ZSX 400 son:
- Análisis Grande de la muestra de hasta 400 milímetros (diámetro), de hasta 50 milímetros (espesor) y de hasta 30 kilogramos (masa)
- Sistema del adaptador de la Muestra que se puede adaptar a los diversos tamaños de muestra
- Mancha de la Medición del diámetro de 30 milímetros a de 0,5 milímetros y también de la selección automática de 5 pasos de progresión
- La Correspondencia de capacidad activa mediciones de múltiples puntos
- Cámara Opcional de opinión de la muestra
- Utilizado para el análisis de fines generales tal como analizar Sea - U, un radio de acción elemental de PPM a % y un rango del espesor de Å sub al milímetro
- Rechazo Opcional de la interferencia de la difracción con los resultados exactos para los substratos monocristal
- Concordancia con los estándares industriales incluyendo SEMI, marca de CE
- Pequeña huella