Lo spettrometro dispersivo di Fluorescenza a raggi X di lunghezza d'onda sequenziale innovatrice di ZSX (WDXRF) 400 da Rigaku esclusivamente è stato destinato per trattare i campioni molto grandi e/o pesanti. Lo strumento può accettare i campioni fino ad un diametro da 400 millimetri, 50 millimetri di spessore e 30 chilogrammi di peso, questo sistema sono ideali per analizzare gli obiettivi della polverizzazione, dischi magnetici, o per la metrologia della pellicola a più strati o l'analisi elementare di grandi campioni.
Lo ZSX 400 è abbastanza versatile adattarsi ai tipi specifici del campione del cliente e l'analisi ha bisogno di e può adattarsi a parecchie dimensioni e forme del campione facendo uso delle inserzioni (su ordinazione) facoltative dell'adattatore. Con un punto variabile di misura (un diametro millimetri da 0,5 - da 30 millimetri con una selezione automatica di 5 punti) e la mappatura della capacità con le misure multipunto per controllare per vedere se c'è l'uniformità del campione, questo strumento altamente flessibile può migliorare drammaticamente i suoi trattamenti di controllo di qualità.
Lo strumento ha una macchina fotografica in tempo reale facoltativa, che permette che il punto dell'analisi sia osservato sullo schermo. L'operatore ha certezza completa quanto a che cosa sta misurando.
Tutte Le capacità analitiche di uno strumento tradizionale sono conservate in questa “variante del grande campione„. Il Berillio (Be) attraverso uranio (u) può essere analizzato con la spettroscopia ad alta definizione e di alta precisione di WDXRF, dai solidi ai liquidi e dalle polveri alle pellicole sottili. Gli Ampi intervalli della composizione (PPM ai dieci delle percentuali) e gli spessori (sotto Å al millimetro) possono anche essere analizzati. Facoltativamente disponibile è il rifiuto di punta di interferenza della diffrazione, per i risultati ottimali per i substrati del unico cristallo. Il Rigaku ZSX 400 aderisce ai SEMI ed al CE degli standard industriali.
Funzionalità di Prodotto
Le caratteristiche fondamentali dello ZSX 400 sono:
- Grande analisi del campione di fino a 400 millimetri (diametro), di fino a 50 millimetri (spessore) e di fino a 30 chilogrammi (la massa)
- Sistema dell'adattatore del Campione che può adattarsi alle varie dimensioni del campione
- Un punto di Misura di un diametro millimetri da 0,5 - da 30 millimetri ed anche di una selezione automatica di 5 punti
- La Mappatura della capacità permette alle misure multipunto
- Fotocamera grande formato Facoltativa del campione
- Usato per l'analisi per tutti gli usi come analizzare Sia - U, un intervallo elementare del PPM a % e un intervallo di spessore di sotto Å al millimetro
- Rifiuto Facoltativo di interferenza di diffrazione con i risultati accurati per i substrati del unico cristallo
- Conformità with gli standard industriali compreso i SEMI, Marcatura CE
- Piccola orma