Rigaku からの革新的な ZSX 400 の順次波長の分散 (WDXRF) X 線の蛍光性の分光計は専ら非常に大きくおよび/または重いサンプルを扱うように設計されていました。 器械は 400 の mm の直径、 50 の mm のまでサンプルを厚さ受け入れることができ、重量 30 の kg は、このシステム放出させるターゲット、磁気ディスクを分析する、または大きいサンプルの多層フィルムの度量衡学か元素分析にとって理想的です。
ZSX 400 は顧客の特定のサンプルタイプに適応するには十分に多目的であり、分析は必要とし、複数のサンプルの大きさおよび形に任意選択 (オーダーメイドの) アダプターの挿入を使用して適応することができます。 可変的な測定の点 (5 ステップ自動選択を使って 30 の mm から 0.5 mm の直径) およびサンプル均等性があるように確認するために分岐測定を用いる機能をマップすることを使うとこの非常に適用範囲が広い器械は劇的に品質管理プロセスを効率化できます。
器械は分析ポイントがスクリーンで見られるようにする任意選択リアルタイムのカメラを備えています。 オペレータは測定されているものがに関して完全な確実性があります。
従来の器械のすべての分析的な機能はこの 「大きいサンプル」等価異形暗号で保たれます。 ウラン (Be) (u) を通したベリリウムは固体からの液体および粉薄膜へのへの高解像の、高精度 WDXRF の分光学と、分析することができます。 広い構成の範囲 (パーセントの 10 への PPM) および厚さ (mm への補助的な Å) はまた分析することができます。 任意で使用できます回折の単一水晶の基板の最適の結果のためのピーク干渉の拒絶は。 Rigaku ZSX 400 は業界標準およびセリウムに半従います。
製品の機能
ZSX 400 の主要特点は次のとおりです:
- 400 までの mm (直径)、 50 までの mm (厚さ) および 30 までの kg (大容量) の大きいサンプル分析
- さまざまなサンプルの大きさに適応させることができるサンプルアダプターシステム
- 30 の mm から 0.5 mm の直径およびまた 5 ステップ自動選択の測定の点
- 機能をマップすることは分岐測定を可能にします
- 任意選択サンプルビュー・カメラ
- 分析のような一般目的の分析のために使用されて % へ - PPM の U、元素範囲および mm へ補助的な Å の厚さの範囲でであって下さい
- 単一水晶の基板のための正確な結果を用いる任意選択回折の干渉の拒絶
- 半を含む業界標準の承諾、セリウムマーキング
- 小さい足跡