O espectrómetro dispersivo da fluorescência do Raio X do comprimento de onda seqüencial inovativo de ZSX (WDXRF) 400 de Rigaku foi projectado exclusivamente segurar amostras muito grandes e/ou pesadas. O instrumento pode aceitar amostras até o diâmetro de 400 milímetros, 50 milímetros de espessura e 30 quilogramas de peso, este sistema são ideais para analisar alvos engasgar, discos magnéticos, ou para a metrologia do filme multilayer ou a análise elementar de grandes amostras.
O ZSX 400 é versátil bastante adaptar-se aos tipos específicos da amostra do cliente e a análise precisa e pode ser adaptada a diversos tamanhos da amostra e formas usando inserções (feitos sob medida) opcionais do adaptador. Com um ponto variável da medida (diâmetro de 30 milímetros a de 0,5 milímetros com selecção automática de 5 etapas) e o traço da capacidade com medidas do multi-ponto para verificar para ver se há a uniformidade de amostra, este instrumento altamente flexível pode dramàtica aerodinamizar seus processos do controle da qualidade.
O instrumento tem uma câmera opcional do tempo real, que permita que o ponto da análise seja visto na tela. O operador tem a certeza completa a respeito do que está sendo medido.
Todas As capacidades analíticas de um instrumento tradicional são retidas nesta da “variação grande amostra”. Berílio (Be) através do urânio (U) pode ser analisado com alta resolução, espectroscopia da elevada precisão WDXRF, dos sólidos aos líquidos e dos pós aos filmes finos. As escalas Largas da composição (ppm aos dez dos por cento) e as espessuras (Å secundário ao milímetro) podem igualmente ser analisadas. Opcionalmente disponível está a rejeção máxima da interferência da difracção, para resultados óptimos para carcaças do único-cristal. O Rigaku ZSX 400 segue com os padrões do sector SEMI e o CE.
Características de Produto
As características chaves do ZSX 400 são:
- Grande análise da amostra de até 400 milímetros (diâmetro), de até 50 milímetros (espessura) e de até 30 quilogramas (massa)
- Sistema do adaptador da Amostra que pode ser adaptado aos vários tamanhos da amostra
- Ponto da Medida do diâmetro de 30 milímetros a de 0,5 milímetros e igualmente de uma selecção automática de 5 etapas
- Traçar a capacidade permite medidas multipontos
- Câmera Opcional de opinião da amostra
- Usado para a análise de uso geral tal como a análise Seja - U, uma escala elementar do ppm a % e uma escala da espessura de Å secundário ao milímetro
- Rejeção Opcional da interferência da difracção com resultados exactos para carcaças do único-cristal
- Conformidade com os padrões do sector que incluem SEMI, marcação de CE
- Pegada Pequena