从 Rigaku 的创新 ZSX 400 连续波长分散性 (WDXRF) X-射线荧光分光仪完全被设计处理非常大并且/或者大量范例。 仪器可能接受范例至 400 mm 直径， 50 mm 厚度，并且 30 kg 重量，此系统是理想的对分析飞溅目标，磁盘，或者对多层膜计量学或对大范例的元素分析。
ZSX 400 是足够多才多艺的适应客户的特定范例类型使用选项 (定做) 适配器插入，并且分析需要并且可以适应几样本大小和形状。 一个可变的评定地点 (与 5 步骤自动选择的 30 mm 到 0.5 mm 直径) 和映射功能以多点评定检查范例均一，此高度灵活的仪器可能显著简化你的质量管理进程。
仪器有一台选项实时照相机，在屏幕允许分析点被查看。 这个运算符有完全把握至于什么被评定。
一台传统仪器的所有分析功能在此 “大范例”变形保留。 铍 (Be)通过铀 (u) 可以分析与高分辨率，高精密度的 WDXRF 分光学，从固体到液体和粉末到薄膜。 可能也分析宽构成范围 (对十倍的 ppm 百分比) 和厚度 (对 mm 的子 Å)。 随意地可用的是衍射高峰干涉拒绝，单一水晶基体的最佳的结果的。 Rigaku ZSX 400 遵照业界标准半和铈。
产品功能
ZSX 400 的关键功能是：
- 对 400 mm (直径)， 50 mm (厚度) 和 30 kg (质量) 的大范例分析
- 范例可以适应多种样本大小的适配器系统
- 30 mm 到 0.5 mm 直径并且 5 步骤自动选择评定地点
- 映射功能启用多点评定
- 选项范例观察照相机
- 使用为通用分析例如分析请是 - U、 ppm 的一个基本范围对 % 和子 Å 的厚度范围对 mm
- 与准确结果的选项衍射干涉拒绝单一水晶基体的
- 遵照业界标准包括半，欧盟标记
- 小的脚印