從 Rigaku 的創新 ZSX 400 連續波長分散性 (WDXRF) X-射線熒光分光儀完全被設計處理非常大並且/或者大量範例。 儀器可能接受範例至 400 mm 直徑， 50 mm 厚度，并且 30 kg 重量，此系統是理想的對分析飛濺目標，磁盤，或者對多層膜計量學或對大範例的元素分析。
ZSX 400 是足够多才多藝的適應客戶的特定範例類型使用選項 (定做) 適配器插入，并且分析需要并且可以適應幾樣本大小和形狀。 一個可變的評定地點 (與 5 步驟自動選擇的 30 mm 到 0.5 mm 直徑) 和映射功能以多點評定檢查範例均一，此高度靈活的儀器可能顯著簡化你的質量管理進程。
儀器有一臺選項實時照相機，在屏幕允許分析點被查看。 這個運算符有完全把握至於什麼被評定。
一臺傳統儀器的所有分析功能在此 「大範例」變形保留。 鈹 (Be)通過鈾 (u) 可以分析與高分辨率，高精密度的 WDXRF 分光學，從固體到液體和粉末到薄膜。 可能也分析寬構成範圍 (對十倍的 ppm 百分比) 和厚度 (對 mm 的子 Å)。 隨意地可用的是衍射高峰干涉拒绝，單一水晶基體的最佳的結果的。 Rigaku ZSX 400 遵照業界標準半和鈰。
產品功能
ZSX 400 的關鍵功能是：
- 對 400 mm (直徑)， 50 mm (厚度) 和 30 kg (質量) 的大範例分析
- 範例可以適應多種樣本大小的適配器系統
- 30 mm 到 0.5 mm 直徑並且 5 步驟自動選擇評定地點
- 映射功能啟用多點評定
- 選項範例觀察照相機
- 使用為通用分析例如分析请是 - U、 ppm 的一個基本範圍對 % 和子 Å 的厚度範圍對 mm
- 與準確結果的選項衍射干涉拒绝單一水晶基體的
- 遵照業界標準包括半，歐盟標記
- 小的腳印