気違い都市実験室 NanoView/M シリーズ Nanopositioning システム

NanoView/M™逆にされた光学顕微鏡との使用のための十分に統合された位置方式です。 作動すること容易および高リゾリューション、長距離 nanopositioners の手動マイクロメートルの現実的、 NanoView/M™コンバイン運転された、二軸、直線運動の段階 - 超低いプロフィールか超高度の速度。 粗い位置の段階の各軸線に構築される 10 nanopositioning 精密に N の安定した阻止部隊は安全なベースを提供します。 NanoView/M™に構築される nanopositioning システムに使用できるロー・プロファイルがあり、閉じたループ制御の下で副ナノメーターの解像度を提供します。 控えめな nanopositioners との NanoView/M™の全高はほんの少しだけもっとより標準手動 X-Y 段階です。 通された取り付け穴 (1/4-20 または 25mm パターンの 1 インチパターンの M6) が付いている任意選択回路盤アセンブリはプローブのための便利な土台表面です。 動きの Nanopositioner の範囲は軸線 (X、 Y および Z) ごとの 200 ミクロンまで拡張します。 PicoQ™の専有技術を利用する内部位置センサーは絶対、反復可能な位置の測定を提供します。 Nano View/M™システムは NanoDrive™コントローラを含み、 LabVIEW のユーザー作成のソフトウェアと互換性があります。

機能

  • nanopositioning との手動に micropositioning
  • 1" (25mm の) 2 軸線の粗い位置
  • nanopositioning 2 軸線か 3 軸線
  • 大きい開口
  • 逆にされた顕微鏡への改装
  • 閉じたループ制御

典型的なアプリケーション

  • 改装すること容易な光学顕微鏡検査
  • 共焦点イメージ投射
  • 蛍光性イメージ投射
  • 単一の分子の分光学
  • 粒子の追跡
  • Nanomanipulation

Last Update: 19. December 2012 10:48

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this equipment listing?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment