瑩光側量器 NanoLog® 系列為研究和 nanomaterials 邊境在納米技術方面特別地設計。 基於 FluoroLog® 的全世界證明的技術， NanoLog® 檢測在近紅外線的熒光從 800 到 1700 毫微米 (對 2 µm 的選項多途徑檢測，對 3 µm 的單路檢測)，與可能可視和紫外的選項。 NanoLog® 來分類 SWNTs，執行 energytransfer 計算和保存的自定義程序和儀器格式特殊地被設計的軟件理想。 一個完全光譜可以一樣快速地瀏覽像一些毫秒，并且充分的勵磁放射矩陣掃描可以被採取僅僅秒鐘。
NanoLog® - 為數量小點请完善，也是!
福利
- 迅速勵磁放射矩陣在幾秒鐘內
- 在近紅外線的高區分與 InGaAs 列陣
- 高分辨率
- 緩和 SWNTs 種類和系列的鑒定和量化
- 與探測器兼容種類從紫外的到近紅外線：
- 最高的區分和 timeresolved 分析的光電倍增管
- 普遍，有效單一要素 InGaAs
- 快速數據收集的多元素的 CCD 列陣
- 數量決心混合物同時加點
- 執行能源調用實驗
- 您理想的實驗設置的模塊設計