Extrémités Tranchantes Superbes d'AFM de Silicium de NanoWorld

Des sondes de NanoWorld Pointprobe® NCH sont conçues pour la représentation de non contact ou de tapping™ de mode. Cette stabilité élevée de fonctionnement de cartels de type sondeur avec la sensibilité en suspens et la capacité rapide de lecture.

Toutes Les sondes de la suite de Pointprobe® sont effectuées à partir du silicium monolithique qui est hautement dopé pour dissiper la charge statique. Elles sont chimiquement inertes et offrent un Q-Facteur mécanique élevé pour la sensibilité élevée. L'extrémité est formée comme une pyramide basée de polygone avec une hauteur du µm 10 -15.

Pour la définition améliorée des nanostructures et du microroughness nous avons développé un processus de fabrication avancé d'extrémité menant à la netteté incomparable de l'extrémité de SuperSharpSilicon.

Cette sonde offre des fonctionnalités uniques :

  • Radius d'extrémité de lordose Particulier de 2 nanomètre
  • Radius d'extrémité de lordose Garanti 5 nanomètre (yield80%)
  • Demi cornière de cône < 10="">

Last Update: 11. March 2012 21:28

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