NanoWorld에서 최고 예리한 실리콘 AFM 끝

NanoWorld에서 최고 예리한 실리콘 AFM 끝

NanoWorld Pointprobe® NCH 탐사기는 몸의 접촉이 없는 tapping™ 최빈값 화상 진찰을 위해 디자인됩니다. 이 탐사기 모형은 걸출한 감도 및 단단 스캐닝 능력과 높은 작동 안정성을 결합합니다.

Pointprobe® 시리즈의 모든 탐사기는 정전하를 낭비하기 위하여 높게 진한 액체로 처리되는 모놀리식 실리콘에게서 합니다. 그(것)들은 화학적으로 비활성 이고 높은 감도를 위한 높은 기계적인 Q 요인을 제안합니다. 끝은 10 -15 µm의 고도를 가진 다각형에 기지를 둔 피라미드 같이 모양 입니다.

nanostructures와 microroughness의 강화된 해결책을 위해 우리는 SuperSharpSilicon 끝의 경쟁자가 없는 날카로움으로 이끌어 내는 향상된 끝 제조공정을 개발했습니다.

이 탐사기는 유일한 특징을 제안합니다:

  • 2 nm의 곡률 반경 전형적인 끝
  • 곡률 반경 5 nm (yield80%) 보장된 끝
  • 절반 콘 각 < 10="">

Last Update: 11. March 2012 21:29

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