Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD

De Super Scherpe Uiteinden van het Silicium AFM van NanoWorld

De sondes van Pointprobe® NCH van NanoWorld worden ontworpen voor niet-contact of tapping™ wijzeweergave. Dit sondetype combineert hoge verrichtingsstabiliteit met opmerkelijke gevoeligheid en snelle aftastencapaciteit.

Alle sondes van de reeks Pointprobe® worden gemaakt van monolithisch silicium dat hoogst wordt gesmeerd om statische last te verdrijven. Zij zijn chemisch inert en bieden een hoge mechanische q-Factor voor hoge gevoeligheid aan. Het uiteinde wordt gestalte gegeven als een veelhoek gebaseerde piramide met een hoogte van 10 -15 µm.

Voor verbeterde resolutie van nanostructures en microroughness hebben wij een geavanceerd uiteinde productieproces ontwikkeld dat tot ongeëvenaarde scherpte van het uiteinde SuperSharpSilicon leidt.

Deze sonde biedt unieke eigenschappen aan:

  • Typische uiteindestraal van kromming van 2 NM
  • Gewaarborgde uiteindestraal van kromming 5 NM (yield80%)
  • Halve kegelhoek < 10="">

Last Update: 11. March 2012 21:28

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment