De Super Scherpe Uiteinden van het Silicium AFM van NanoWorld

De Super Scherpe Uiteinden van het Silicium AFM van NanoWorld

De sondes van Pointprobe® NCH van NanoWorld worden ontworpen voor niet-contact of tapping™ wijzeweergave. Dit sondetype combineert hoge verrichtingsstabiliteit met opmerkelijke gevoeligheid en snelle aftastencapaciteit.

Alle sondes van de reeks Pointprobe® worden gemaakt van monolithisch silicium dat hoogst wordt gesmeerd om statische last te verdrijven. Zij zijn chemisch inert en bieden een hoge mechanische q-Factor voor hoge gevoeligheid aan. Het uiteinde wordt gestalte gegeven als een veelhoek gebaseerde piramide met een hoogte van 10 -15 µm.

Voor verbeterde resolutie van nanostructures en microroughness hebben wij een geavanceerd uiteinde productieproces ontwikkeld dat tot ongeëvenaarde scherpte van het uiteinde SuperSharpSilicon leidt.

Deze sonde biedt unieke eigenschappen aan:

  • Typische uiteindestraal van kromming van 2 NM
  • Gewaarborgde uiteindestraal van kromming 5 NM (yield80%)
  • Halve kegelhoek < 10="">

Last Update: 11. March 2012 21:28

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier