從 NanoWorld 的超級鋒利的硅 AFM 技巧

NanoWorld Pointprobe® NCH 探測為沒有接觸或 tapping™模式想像設計。 此探測類型與未清區分和快速掃描能力結合高運算穩定性。

Pointprobe® 串聯的所有探測由高度被摻雜消散靜電的整體硅做。 他們是化工惰性的并且提供高區分的一個高機械 Q 系數。 這個技巧是形狀像與高度的一座多角形基於金字塔 10 -15 µm。

对 nanostructures 和 microroughness 的改進的解決方法我們開發了導致 SuperSharpSilicon 技巧的無敵的鋒利的一個先進的技巧製造過程。

此探測提供唯一功能:

  • 典型的技巧麴率半徑 2 毫微米
  • 保證的技巧麴率半徑 5 毫微米 (yield80%)
  • 半錐體角度 < 10="">

Last Update: 11. March 2012 21:28

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment