從 NanoWorld 的超級鋒利的硅 AFM 技巧

從 NanoWorld 的超級鋒利的硅 AFM 技巧

NanoWorld Pointprobe® NCH 探測為沒有接觸或 tapping™模式想像設計。 此探測類型與未清區分和快速掃描能力結合高運算穩定性。

Pointprobe® 串聯的所有探測由高度被摻雜消散靜電的整體硅做。 他們是化工惰性的并且提供高區分的一個高機械 Q 系數。 這個技巧是形狀像與高度的一座多角形基於金字塔 10 -15 µm。

对 nanostructures 和 microroughness 的改進的解決方法我們開發了導致 SuperSharpSilicon 技巧的無敵的鋒利的一個先進的技巧製造過程。

此探測提供唯一功能:

  • 典型的技巧麴率半徑 2 毫微米
  • 保證的技巧麴率半徑 5 毫微米 (yield80%)
  • 半錐體角度 < 10="">

Last Update: 11. March 2012 21:28

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