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Sistema de Haz Enfocado V600FIB de Ión (FIB) de FEI

La Familia V600 comprende el más eficiente, flexible, y el circuito de poco costo corrige las herramientas disponibles para los laboratorios del semiconductor. Activan la modificación y el análisis rápidos, versátiles con un haz de ión de una sola columna, enfocado (FIB) que entregue efectivo la altos modificación del circuito de la producción, cruz-seccionamiento, y análisis del incidente. La Familia V600 incluye la dotación física y las extensiones del software para dirigir el circuito avanzado corrigen requisitos debajo de 65 nanómetro, entregando las soluciones más de poco costo para los requisitos inmediatos y futuros.

Ventajas y Capacidades

Ofreciendo FEI los 30 kilovoltios más avanzados, la olumna del ión del Sidewinder de 5 nanómetro, cada pieza de la Familia V600 es supremo capaz de proyección de imagen de alta resolución, fresando, y acceso rápido a las características subsuperficies en una amplia gama de materiales. la dirección de la Mediados de-Olumna para las operaciones de baja tensión disminuye daño en laminillas de la TEM-muestra mientras que la operación de gran intensidad asegura retiro material rápido y la producción creciente de la muestra.

Con su escenario piezoeléctrico de cinco-AXIS, el V600FIB ofrece la inclinación uncompromised y las capacidades del cruz-seccionamiento en una amplia gama de muestras, de piezas embaladas a los fulminantes completos de 200m m. Un sistema operativo Basado En Windows industria-reconocido acomoda software campo-probado, xT-aplicación-específico, incluyendo la Navegación del Bastidor-Salto para disminuir daño a sus muestras. Con el V600FIB, usted tiene la potencia de realizar modificaciones del circuito en cuestión de horas, en vez de días o semana-que es el clave a las rampas dramáticamente aceleradas del análisis y del rendimiento en su laboratorio. También ofrece la generación siguiente de adaptabilidad y el funcionamiento requerido para el cruz-seccionamiento, la proyección de imagen, y la preparación efectivos de la muestra de la microscopia electrónica (TEM) de transmisión.

Aplicaciones

V600FIB es ejecutante excelente para las aplicaciones siguientes:

  • ALMACENAMIENTO DEL SEMICONDUCTOR Y DE DATOS
    • El Circuito Corrige
    • Análisis del Incidente
    • Análisis de Defecto
    • Metrología 3D
  • INVESTIGACIÓN
    • Materiales y Preparación de la Muestra
    • Nanoprototyping

Last Update: 3. February 2012 16:35

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