FEI V600FIB Concentreerde het Systeem van de (FIB) Ionenstraal

De V600 Familie bestaat uit het meest efficiënt, flexibel, en de rendabele kring geeft hulpmiddelen beschikbaar voor halfgeleiderlaboratoria uit. Zij laten snel toe, veelzijdige wijziging en analyse met een enig-kolom, geconcentreerde ionenstraal (FIB) die effectief de hoge wijziging van de productiekring, dwars-segmenteert, en mislukkingsanalyse levert. De V600 Familie omvat hardware en de softwareuitbreidingen om geavanceerde kring te richten geven vereisten onder 65 NM uit, leverend de rendabelste oplossingen voor onmiddellijke en toekomstige behoeften.

Voordelen en Mogelijkheden

Kenmerkend FEI het meest geavanceerd 30 kV, 5 NMSidewinder is de ionenkolom, elk lid van de V600 Familie supremely geschikt voor high-resolution weergave, malen, en snelle toegang tot subsurface eigenschappen op een brede waaier van materialen. De leiding van de medio-Kolom voor zwakstroomverrichtingen minimaliseert schade in TEM-Steekproef lamellen terwijl high-current verrichting snelle materiële verwijdering en verhoogde steekproefproductie verzekert.

Met zijn vijf-as piezo stadium, uncompromised de aanbiedingen V600FIB schuine stand en dwars-segmenteert mogelijkheden op een brede waaier van steekproeven, van verpakte delen aan volledige 200mm wafeltjes. Een industrie-erkend Op Windows Gebaseerd werkend systeem past gebied-bewezen, xT-toepassing-specifieke software, met inbegrip van kader-Sprong Navigatie aan om schade aan uw steekproeven te minimaliseren. Met V600FIB, hebt u de bevoegdheid om kringswijzigingen in een kwestie van uren, in plaats van dagen uit te voeren of week-die de sleutel aan dramatisch versnelde analyse en opbrengsthellingen in uw laboratorium is. Het biedt ook de volgende die generatie van flexibiliteit en prestaties aan voor efficiënte dwars-segmenteert, weergave, en de steekproefvoorbereiding van de transmissie (TEM)elektronenmicroscopie wordt vereist.

Toepassingen

V600FIB is uitstekende uitvoerder voor de volgende toepassingen:

  • DE OPSLAG VAN DE HALFGELEIDER EN VAN GEGEVENS
    • De Kring Geeft uit
    • De Analyse van de Mislukking
    • De Analyse van het Tekort
    • 3D Metrologie
  • ONDERZOEK
    • Materialen en de Voorbereiding van de Steekproef
    • Nanoprototyping

Last Update: 3. February 2012 16:20

Ask A Question

Do you have a question you'd like to ask the manufacturer of this equipment or can you provide feedback regarding your use of this equipment?

Leave your feedback
Submit
Other Equipment by this Supplier
Other Equipment