FEI V600FIB 集中的離子束 (FIB)系統

V600 系列包括最高效,靈活,并且有效電路編輯工具可用為半導體實驗室。 他們啟用快速,多才多藝的修改和分析與有效提供高處理量電路 (FIB)修改,跨區分和故障分析的單排,集中的離子束。 V600 系列包括硬件,并且解決先進的電路的軟件擴展名編輯需求在 65 毫微米以下,提供最有效的解決方法的立即和將來的需求。

好處和功能

以 FEI 的最先進的 30 kV 為特色, 5 毫微米響尾蛇離子列, V600 系列的每位親屬至尊有能力在高分辨率想像上,碾碎,和快速存取對在各種各樣的材料的表層下功能。 當高電流運算保證迅速物質刪除和增加的範例處理量時,低壓運算的中間列指點使在 TEM 範例鱗片的故障減到最小。

其五軸壓力階段, V600FIB 為充分的 200mm 薄酥餅提供沒有暴露的掀動和在各種各樣的範例的跨區分功能,從被包裝的零件。 一行業被識別的微軟視窗操作系統適應現場以證實, xT 應用特定軟件,包括框架上漲定位使對您的範例的故障減到最小。 使用 V600FIB,您有功率幾小時進行電路修改,而不是或星期是這個關鍵字對顯著加速的分析和產量舷梯在您的實驗室的幾天。 它也提供靈活性的對於有效跨區分,想像和透射電鏡術範例準備是必需的下一代 (TEM)和性能。

應用

V600FIB 是下列應用的非常好的執行者:

  • 半導體和數據存儲
    • 電路編輯
    • 故障分析
    • 缺陷分析
    • 3D 計量學
  • 研究
    • 材料和範例準備
    • Nanoprototyping

Last Update: 3. February 2012 16:18

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