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NanoWorld 發行 AFM 和 SPM 探測在九種語言的產品手冊

Published on February 23, 2009 at 6:52 PM

NanoWorld - 探測主導的製造商瀏覽的探測顯微學 (SPM)和基本強制顯微學的 (AFM) - 宣佈了其在九種語言的產品手冊的發行。 NanoWorld 的產品手冊現在是可用的用英語,法語,德語,西班牙語,俄語,日語,韓文和在傳統以及簡體中文。 「這是一個附加業務對我們的穩步增長的用戶」說米夏埃拉 Roessger, AG NanoWorld 市場營銷經理。

新產品手冊直接地發表到 SPM 的所有用戶桌面,并且 AFM 探查全世界。 產品手冊可以在線被查看在 www.nanoworld.com/或被下載作為 PDF。 NanoWorld™不斷地將更新這些產品手冊和在線永遠提供最當前的產品信息。 「我們是愉快從現在起提供我們的用戶以在他們的母語的最新的產品信息在我們的網站。 這是理想的補全對我們廣泛的產品指南用英語與的詳細資料表我們的每一个 AFM 打翻」 Roessger 說。

基於瑞士的 NanoWorld AG 是優質技巧一個主導的製造商瀏覽的探測顯微鏡 (SPM)和基本強制顯微鏡的 (AFM)。 基本強制顯微鏡 (AFM)是為 nanoscience 和納米技術的全部的域的重要工具。 AFM 探測用於研究和商業納米技術企業調查在一基本等級的材料。 NanoWorld 導致的基本強制顯微學的瀏覽的探測是科學家的關鍵可消耗在納米技術方面。 NanoWorld 製造的一致優質掃描探測對再現結果是重要的。

Last Update: 24. January 2012 10:16

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