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Posted in | Nanoanalysis

PANalytical Pone En Marcha el Nuevo Conjunto Standardless del Análisis en PITTCON 2009

Published on March 6, 2009 at 6:32 AM

PITTCON 2009 (8-13 de marzo, Chicago, los E.E.U.U.) verá el lanzamiento del nuevo conjunto standardless del análisis de PANalytical, Omnian. Este último módulo del suite de software probado de SuperQ de la compañía se diseña para ser utilizado con el espectrómetro secuencial de la fluorescencia de la Radiografía (XRF) de Axios.

Omnian resuelve sus retos analíticos

Omnian contesta ideal la caracterización y el análisis de muestras desconocidas, o en situaciones donde no están disponibles los patrones certificados que corresponden con características específicas de la muestra.

Omnian puede manejar una amplia variedad de tipos de la muestra tales como macizo, polvos prensados, bordes fundidos, polvos sueltos y líquidos. El software es adaptable, dependiendo de experiencia del utilizador o del modo de operación deseado. Con su potencia problem-solving se ocupa de retos analíticos incluyendo la cuantificación de la muestra, análisis de la investigación y del incidente, así como la comparación de diversos materiales.

Omnian se fija para convertirse en la nueva prueba patrón en estas aplicaciones importantes. Se diseña para proporcionar a la cuantificación rápida, segura en modo del valor por defecto del rectángulo negro del `'. Sin Embargo, los datos cerco son completos y se pueden revisar más extensivamente.

El sistema ajusta automáticamente a los efectos de la muestra y de la matriz así como al espesor de la muestra, al volumen y composición de la Oscuro-Matriz del ` a la'. Puede ser ajustado para la exactitud creciente usando la Caracterización Adaptante de la Muestra (ASC).

Omnian es utilizado por la red mundial de PANalytical de los especialistas del soporte y del servicio. Para más información, visita www.panalytical.com/omnian

Last Update: 17. January 2012 03:19

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