PITTCON 2009 (8-13 mars, Chicago, ETATS-UNIS) verra le lancement du module standardless neuf de l'analyse de PANalytical, Omnian. Ce dernier module dans la suite logiciel prouvée de SuperQ de la compagnie est conçu pour être utilisé avec le spectromètre séquentiel de Fluorescence à rayons X (XRF) d'Axios.
Omnian résout vos défis analytiques
Omnian apporte la réponse idéale pour la caractérisation et l'analyse des échantillons inconnus, ou dans les situations où les normes certifiées qui apparient des caractéristiques particulières d'échantillon ne sont pas disponibles.
Omnian peut traiter une grande variété de types témoin tels que des solides, des poudres pressantes, des petits programmes fixés, des poudres desserrées et des liquides. Le logiciel est capable de s'adapter, selon l'expérience utilisateur ou le mode de fonctionnement désiré. Avec son alimentation électrique de résolution des problèmes il traite des défis analytiques comprenant la quantification d'échantillon, l'analyse d'examen critique et de défaillance, ainsi que la comparaison de différents matériaux.
Omnian est réglé pour devenir le benchmark neuf dans ces applications importantes. Il est conçu pour fournir la quantification rapide et fiable mode dans de défaut de ` boîte noire'. Cependant, les données rassemblées sont complètes et peuvent être révisées plus considérable.
Le système règle automatiquement sur des effets d'échantillon et de modification ainsi que l'épaisseur d'échantillon, le volume et composition en Sombre-Modification de ` la'. Il peut être réglé avec précision pour l'exactitude accrue à l'aide de la Caractérisation Adaptative d'Échantillon (ASC).
Omnian est supporté par le réseau mondial de PANalytical des spécialistes en support et en service. Pour plus d'information, visite www.panalytical.com/omnian