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Posted in | Nanoanalysis

PANalytical は PITTCON 2009 年で新しい Standardless 分析のパッケージを進水させます

Published on March 6, 2009 at 6:32 AM

PITTCON 2009 年は (3 月 8-13 日、シカゴ、米国) PANalytical の新しい standardless 分析のパッケージ、 Omnian の進水を見ます。 会社の証明された SuperQ のソフトウェアスイートのこの最新のモジュールは Axios の順次 X 線の蛍光性の分光計によって使用されるように (XRF)設計されています。

Omnian は分析的な挑戦を解決します

Omnian は未知のサンプルの、または特定のサンプル特性に一致させる証明された標準が使用できない状態の性格描写そして分析に理想的な答えを提供します。

Omnian は固体、圧粉、溶かされたビード、緩い粉および液体のようないろいろサンプルタイプを扱うことができます。 ソフトウェアはユーザーの経験か望ましい動作モードによって適応可能、です。 問題解決力によってそれは異なった材料のサンプル定量化を含む分析的な挑戦を、スクリーニングおよび障害の分析、また比較取扱います。

Omnian はこれらの重要なアプリケーションの新しい基準になるためにセットされます。 モードデフォルトの ` のブラックボックスのの速い、信頼できる定量化を」提供することを設計します。 ただし、集められるデータは広範囲で、もっと広く見直すことができます。

システムはサンプルおよびマトリックスの効果、またサンプル厚さ、ボリュームおよび ` の暗マトリックスの」構成に自動的に調節します。 それは高められた正確さのために適応性があるサンプル性格描写の使用によって最適化することができます (ASC)。

Omnian は PANalytical のサポートおよびサービス専門家の世界的なネットワークによってサポートされます。 より多くの情報のため、訪問 www.panalytical.com/omnian

Last Update: 14. January 2012 06:37

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