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Posted in | Nanoanalysis

帕纳科2009年在匹兹堡推出新的标样分析软件包

Published on March 6, 2009 at 6:32 AM

匹兹堡2009年3月(8-13日,美国芝加哥)将看到的发射帕纳科的新标样分析软件包,Omnian。这在该公司的已探明的super软件套件的最新模块的设计是用于与Axios公司连续的X射线荧光(XRF)光谱仪。

Omnian解决您所面临的各种分析方面的挑战

Omnian未知样品的表征和分析提供理想的答案,或符合特定样本特征的认证标准的情况下无法使用。

Omnian可以处理多种类型的样品,如固体,粉末压,熔珠,松散粉末和液体。该软件是适合的,取决于用户体验或所需的操作模式。其解决问题的权力,它涉及与挑战,包括样品定量分析,筛选和故障分析,以及不同材料的比较分析。

Omnian将成为新的基准在这些重要的应用。它的目的是提供快速,可靠的定量分析,在默认的“黑盒子”的模式。但是,收集到的数据是全面的,可以更广泛地进行审查。

该系统会自动调整样品和基质效应以及样品的厚度,体积和“黑暗矩阵组成。利用自适应样品表征(ASC)功能,可以提高精度微调。

Omnian支持帕纳科的支持和服务的专家的全球网络。有关详细信息,请访问www.panalytical.com / omnian

Last Update: 18. October 2011 02:26

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