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PANalytical 生成新的 Standardless 分析程序包在 PITTCON 2009年

Published on March 6, 2009 at 6:32 AM

PITTCON 2009年 (3月 8-13,芝加哥,美國) 將看到 PANalytical 的新的 standardless 分析程序包, Omnian 生成。 此最新的模塊在公司的證明的 SuperQ 軟件套件被設計使用與 Axios 連續 X-射線熒光 (XRF)分光儀。

Omnian 解決您的分析挑戰

Omnian 為對未知的範例的描述特性和分析提供理想的答復,或者在被確認的標準符合特定範例特性不是可用的情形。

Omnian 可能處理各種各樣的範例類型例如固體、粉餅、被熔化的小珠、鬆散粉末和液體。 這個軟件根據用戶經驗或期望操作模式是能適應的。 其解決問題的功率它處理分析挑戰包括範例量化、審查和故障分析,以及不同的材料比較。

設置 Omnian 成為在這些重要應用的新的基準。 它被設計提供在默認值 ` 黑匣子的快速,可靠的量化』模式。 然而,收集的這個數據全面,并且可以更加廣泛地被覆核。

這個系統對範例和矩陣作用以及範例厚度、數量和 ` 黑暗矩陣』構成自動地調整。 通過使用可適應的範例描述特性,它可以為增加的準確性優化 (ASC)。

Omnian 通過支持和服務專家 PANalytical 的全世界網絡支持。 對於更多信息,訪問 www.panalytical.com/omnian

Last Update: 24. January 2012 11:38

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