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数量从 FEI 的 50 系列重新解释 SEMs 的通用性

Published on March 9, 2009 at 8:20 AM

FEI 公司 (那斯达克:FEIC),基本缩放比例想象一位主导的提供者和分析系统,今天发行了数量 (TM) 50 系列扫描电子显微镜 (SEM),提供性能和通用性的一个未清组合在各种各样的范例。 数量 50 系列在 1642) 进行在芝加哥, 2009年 3月 8-13 的 Pittcon (摊将被引入。

“新的数量 50 系列是现在可以得到一个最多才多艺的 SEMs”,丹尼尔 Phifer,产品营销经理, FEI 说。 “它被设计作为为各种各样的范例要求高性能想象,包括那些是绝缘,湿,坏或者动力变化,在行业例如材料研究、矿物学、化学制品和石油、电子、配药和生物的实验室的多用途 SEM。 不同于其他 SEMs,这个范例必须适合仪器设计,唯一数量 50 系列被设计启用所有范例查看在其自然状态的。 数量 50 系列提供强大的性能和灵活性,使它随着时间的推移依然是一次重要的投资作为实验室更改的需要”。

FEI 适应用于革命 Magellan (TM) 极其高分辨率的那些技术 SEM (XHR SEM) 设计在新的量子论系统的戏剧性改进。 特别地,射线减速增加与更低的着陆能源的表面想象功能,并且更加进一步 SmartSCAN (TM) 的技术经过减少噪声改进图象质量。 这添加主导选件类的高真空,低着陆能源想象功能到数量的低真空的灵活性和环境 SEM (ESEM) 技术。 ESEM,作早期工作在被 FEI,启用在原处想象情况的最清楚的范围。

数量 50 系列在 2009年 4月将是可用的,并且包括有效钨和高性能场致发射电子来源选项。

Last Update: 14. January 2012 04:56

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