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數量從 FEI 的 50 系列重新解釋 SEMs 的通用性

Published on March 9, 2009 at 8:20 AM

FEI 公司 (那斯達克:FEIC),基本縮放比例想像一位主導的提供者和分析系統,今天發行了數量 (TM) 50 系列掃描電子顯微鏡 (SEM),提供性能和通用性的一個未清組合在各種各樣的範例。 數量 50 系列在 1642) 進行在芝加哥, 2009年 3月 8-13 的 Pittcon (攤將被引入。

「新的數量 50 系列是現在可以得到一个最多才多藝的 SEMs」,丹尼爾 Phifer,產品營銷經理, FEI 說。 「它被設計作為為各種各樣的範例要求高性能想像,包括那些是绝緣,濕,壞或者動力變化,在行業例如材料研究、礦物學、化學製品和石油、電子、配藥和生物的實驗室的多用途 SEM。 不同於其他 SEMs,這個範例必須適合儀器設計,唯一數量 50 系列被設計啟用所有範例查看在其自然狀態的。 數量 50 系列提供強大的性能和靈活性,使它隨著時間的推移依然是一次重要的投資作為實驗室更改的需要」。

FEI 適應用於革命 Magellan (TM) 極其高分辨率的那些技術 SEM (XHR SEM) 設計在新的量子論系統的戲劇性改進。 特別地,射線減速增加與更低的著陸能源的表面想像功能,并且更加進一步 SmartSCAN (TM) 的技術經過減少噪聲改進圖像質量。 這添加主導選件類的高真空,低著陸能源想像功能到數量的低真空的靈活性和環境 SEM (ESEM) 技術。 ESEM,作早期工作在被 FEI,啟用在原處想像情況的最清楚的範圍。

數量 50 系列在 2009年 4月將是可用的,并且包括有效鎢和高性能場致發射電子來源選項。

Last Update: 24. January 2012 11:38

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