Agilent Расширяет Возможности Сильно Разностороннего AFM для Больших и Малых Образцов

Published on March 9, 2009 at 7:35 PM

Agilent Технологии Inc. (NYSE: A) сегодня объявило добавление нескольких новых возможностей к своему 5600LS, микроскоп усилия высок-разрешения атомный (AFM) который использует польностью addressable этап 200mm x 200mm и малошумную конструкцию AFM к образцам изображения и большим и малым. Для типичной гибкости, 5600LS может приспособить или одиночный большой образец или множественные малые образцы, каждое положений которого смогите быть запрограммировано в современную систему AFM. Выдающая многосторонность аппаратуры делает Agilent 5600LS идеально выбор для средств multi-пользователя.

«5600LS AFM мира единственный имеющий на рынке который позволяет воображению больших образцов в воздухе так же, как малых образцов или в воздухе или в жидкости под контролем температуры с высок-разрешением блок развертки 9 микронов,» сказало Джеф Джонса, менеджер деятельностей для средства AFM Agilent в Чэндлере, Аризоне «способность Системы 5600LS использовать открытое и блоки развертки короткозамкнутого витка с рядом развертки 9 микронов позволяют воображению малых комплектов характеристики на атомном разрешении. Этот предварительный универсальный AFM включает замечательн обширный комплект применений нанотехнологии, включая полупроводник, науку материалов и изучения наук о жизни.»

Специальный переходника этапа Agilent позволяет 5600LS быть использованным с плитой образца которая облегчает в-жидкое воображение малых образцов. AFM предлагает топление и охлаждая управление для воображения биологического и образцы полимера в жидкости. Режим MAC Agilent запатентованный дает пользователям 5600LS ведущее в отрасли представление для воображения в-жидких и мягк-образце.

5600LS поддерживает все главные режимы AFM. Используя Режим MAC III обеспечивает 3 пользовател-конфигурируемое замк-в усилителях, возможности применения исследователей фактически безграничные и беспрецедентную скорость. Режим III MAC позволяет одновременности воображения один прохода с KFM/EFM, облегчает вертикальные или боковые изучения модуляции, и поддерживает пользу более высоких режимов резонанса cantilever.

5600LS также совместимо с режимом микроскопии микроволны скеннирования Agilent (SMM) уникально, который -- для the first time -- совмещает смесь, откалибрированные электрические возможности измерения анализатора сети вектора микроволны (VNA) с пространственным разрешением nanoscale и высокоточный располагать атомного микроскопа усилия. Режим SMM делает традиционные AFM-основанные просматривая методы лучше микроскопии емкости, предлагая значительно большую многосторонность применения, способность приобрести количественные результаты, и самый высокий динамический диапазон чувствительности и в индустрии.

Last Update: 11. January 2012 16:28

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit