Site Sponsors
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD

Технологии Agilent Объявляют Добавление Нескольких Новых Возможностей к 5600LS Высок-Res AFM

Published on March 12, 2009 at 3:13 AM

Agilent Технологии Inc. (NYSE: A) сегодня объявило добавление нескольких новых возможностей к Agilent 5600LS, микроскопу усилия высок-разрешения атомному который использует польностью addressable этап 200mm x 200mm и малошумную конструкцию AFM к образцам изображения и большим и малым. Для типичной гибкости, этап 5600LS может теперь приспособить или одиночный большой образец или множественные малые образцы, каждое положений которого смогите быть запрограммировано в современную систему AFM. Выдающая многосторонность аппаратуры делает 5600LS идеально выбор для средств multi-пользователя.

«5600LS AFM мира единственный имеющий на рынке который позволяет воображению больших образцов в воздухе так же, как малых образцов или в воздухе или в жидкости под контролем температуры с высок-разрешением блок развертки 9 микронов,» сказало Джеф Джонса, менеджер деятельностей для средства AFM Agilent в Чэндлере, Аризоне. «Способность Системы 5600LS использовать блоки развертки открытых и короткозамкнутого витка с рядом развертки 9 микронов позволяет воображению малых комплектов характеристики на атомном разрешении. Этот предварительный универсальный AFM включает замечательн обширный комплект применений нанотехнологии, включая полупроводник, науку материалов, и изучения наук о жизни.»

Специальный переходника этапа Agilent позволяет 5600LS быть использованным с плитой образца которая облегчает в-жидкое воображение малых образцов. Нагрюя и охлаждая управление также предложено для воображения биологического и образцов полимера в жидкости. Режим MAC Agilent запатентованный дает пользователям 5600LS ведущее в отрасли представление для воображения в-жидких и мягк-образце.

5600LS поддерживает все главные режимы AFM. Использование Режима III MAC обеспечивает 3 пользовател-конфигурируемое замк-в усилителях, возможности применения исследователей фактически безграничные и беспрецедентную скорость. Режим III MAC позволяет одновременности воображения один прохода с KFM/EFM, облегчает вертикальные или боковые изучения модуляции, и поддерживает пользу более высоких режимов резонанса cantilever.

5600LS также совместимо с режимом микроскопии микроволны скеннирования Agilent (SMM) уникально, который совмещают смесь, откалибрированные электрические возможности измерения анализатора сети вектора микроволны (VNA) с пространственным разрешением nanoscale и высокоточный располагать атомного микроскопа усилия для the first time. Режим SMM делает традиционные AFM-основанные просматривая методы лучше микроскопии емкости, предлагая значительно большую многосторонность применения, способность приобрести количественные результаты, и самый высокий динамический диапазон чувствительности и в индустрии.

Last Update: 11. January 2012 16:28

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit