Agilent 技术宣布几个新的功能的添加对 5600LS 高 Res AFM

Published on March 12, 2009 at 3:13 AM

Agilent Technologies Inc. (NYSE : A) 今天宣布了几个新的功能的添加对 Agilent 5600LS,使用一个充分地可寻址的 200mm x 200mm 阶段和一个低噪声 AFM 设计对图象大和小的范例的高分辨率基本强制显微镜。 对最终灵活性,这个 5600LS 阶段可能现在适应一个唯一大范例或多个小的范例,地点能被编程到科技目前进步水平 AFM 系统的其中每一个。 未清仪器通用性做出这个 5600LS 多用户设施的一个理想的选择。

“这个 5600LS 是允许大范例以及小的范例想象在航空的在航空或在液体在与高分辨率 9 微米扫描程序的温度控制下的世界的唯一的商业可用的 AFM”,说杰夫琼斯, Agilent 的 AFM 设备的操作管理员在杂货商,亚利桑那。 “5600LS 系统的能力使用有 9 微米扫描范围的开放和闭环扫描程序允许小的功能集想象在基本解决方法。 此先进的多用途 AFM 启用卓越地清楚的套纳米技术应用,包括半导体,材料学,并且生命科学学习”。

一台特殊 Agilent 阶段适配器允许这个 5600LS 使用与实现小的范例流动想象的范例牌照。 加热的和冷却的控制为生物的想象和在液体的聚合物范例也提供。 Agilent 的给予专利的 MAC 模式产生 5600LS 用户流动和软范例想象的领先业界的性能。

这个 5600LS 支持所有主要 AFM 模式。 MAC 模式 III 的利用率提供三个用户可配置封锁行动放大器,买得起研究员实际上不可限量的应用可能性和史无前例的速度。 MAC 模式 III 允许与 KFM/EFM 的单遍想象并发,实现垂直或侧向模块化研究,并且支持使用悬臂的更高的共鸣模式。

这个 5600LS 第一次也是与 Agilent 的唯一扫描微波 (SMM)显微学模式兼容,结合这种化合物,微波向量网络分析仪的被校准的电子评定功能 (VNA)与 nanoscale 空间分辨率的和高精密度确定一个基本强制显微镜。 SMM 模式胜过传统基于 AFM 的浏览的电容显微学技术,提供更加极大的应用通用性、这个能力获取定量结果和在这个行业的最高的区分和力学范围。

Last Update: 11. January 2012 16:07

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit