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Agilent 技術宣佈幾個新的功能的添加對 5600LS 高 Res AFM

Published on March 12, 2009 at 3:13 AM

Agilent Technologies Inc. (NYSE : A) 今天宣佈了幾個新的功能的添加對 Agilent 5600LS,使用一個充分地可尋址的 200mm x 200mm 階段和一個低噪聲 AFM 設計對圖像大和小的範例的高分辨率基本強制顯微鏡。 对最終靈活性,這個 5600LS 階段可能現在適應一個唯一大範例或多個小的範例,地點能被編程到科技目前進步水平 AFM 系統的其中每一個。 未清儀器通用性做出這个 5600LS 多用戶設施的一個理想的選擇。

「這个 5600LS 是允許大範例以及小的範例想像在航空的在航空或在液體在與高分辨率 9 微米掃描程序的溫度控制下的世界的唯一的商業可用的 AFM」,說傑夫瓊斯, Agilent 的 AFM 設備的操作管理員在雜貨商,亞利桑那。 「5600LS 系統的能力使用有 9 微米掃描範圍的開放和閉環掃描程序允許小的功能集想像在基本解決方法。 此先進的多用途 AFM 啟用卓越地清楚的套納米技術應用,包括半導體,材料學,并且生命科學學習」。

一臺特殊 Agilent 階段適配器允許這个 5600LS 使用與實現小的範例流動想像的範例牌照。 加熱的和冷卻的控制為生物的想像和在液體的聚合物範例也提供。 Agilent 的給予專利的 MAC 模式產生 5600LS 用戶流動和軟範例想像的領先業界的性能。

這个 5600LS 支持所有主要 AFM 模式。 MAC 模式 III 的利用率提供三個用戶可配置封鎖行動放大器,買得起研究員實際上不可限量的應用可能性和史無前例的速度。 MAC 模式 III 允許與 KFM/EFM 的單遍想像併發,實現垂直或側向模塊化研究,并且支持使用懸臂的更高的共鳴模式。

這个 5600LS 第一次也是與 Agilent 的唯一掃描微波 (SMM)顯微學模式兼容,結合這種化合物,微波向量網絡分析儀的被校準的電子評定功能 (VNA)與 nanoscale 空間分辨率的和高精密度確定一個基本強制顯微鏡。 SMM 模式勝過傳統基於 AFM 的瀏覽的電容顯微學技術,提供更加極大的應用通用性、這個能力獲取定量結果和在這個行業的最高的區分和力學範圍。

Last Update: 24. January 2012 11:38

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