FEI Introduceert Systeem Fibermetric voor Directe Observatie en Meting van Micro en nano-Vezels

Published on March 31, 2009 at 9:04 AM

FEI (Nasdaq: FEIC) die, kondigden een belangrijke leverancier van elektronenweergave en de analysesystemen, vandaag het systeem Fibermetric™ aan door de persoonlijke elektronenmicroscoop Phenom™ wordt aangedreven. Het systeem Fibermetric wordt ontworpen om en de eigenschappen van geweven en niet-geweven vezelsteekproeven in notulen te ontdekken te kwantificeren, die directe observatie en meting van sneller, nauwkeuriger en gemakkelijkere micro en nano-vezels maken.

„Dit is het eerste geïntegreerde, kant en klare systeem voor de weergave van de submicronvezel en geautomatiseerde meting,“ bovengenoemde Paul Scagnetti, ondervoorzitter en algemene manager, de Afdeling van de Industrie van FEI. De „Synthetische vezelfabrikanten zullen zich typisch van de meting van submicronvezels en poriën onthouden, die aan de procesbeheersing en van de productkwaliteit gevolgen lijden, of zij kunnen een duurdere en complexe elektronenmicroscoop in het laboratorium gebruiken, dat verscheidene dagen kan vergen alvorens de gegevens aan zij beschikbaar zijn die het.“ nodig hebben

Met het systeem Fibermetric, kunnen de ingenieurs de gegevens krijgen zij zich nodig hebben. Het systeem verzamelt automatisch honderden metingen per beeld, en produceert vezel en porie de percelen van de groottedistributie voor kwaliteitsbeheersing en voor het voorspellen van toepassingseigenschappen zoals filtratieefficiency.

Het systeem Fibermetric vereist geen laboratoriuminfrastructuur of speciaal opgeleid personeel. Het heeft een tijd van de steekproeflading van minder dan 30 seconden, en zijn geautomatiseerd metingsvermogen produceert statistisch geldige gegevens in de tijd het neemt om een conventionele aftastenelektronenmicroscoop te laden (SEM). De Vergrotingen tot 24.000 keer produceren nauwkeurige informatie over vezels zo klein zoals 100nm in diameter.

De Fibermetric de systeem nauwkeurig beelden en maatregelen bijna om het even welke vezelsteekproef met zijn 4.9 nm/pixel- resolutie en een Gaussian geschikte functie, die vindt en automatisch vezels en poriën meet. De nano-Vezels met diameters van 100nm worden uit routine gemeten met groter dan 97 percenten nauwkeurigheids.

Het „systeem Fibermetric maakt deel uit van de familie FEI Phenom van persoonlijke elektronenmicroscopen,“ bovengenoemde Scagnetti. „Met zijn betaalbare prijs, handigheid, snelheid en nauwkeurigheid, levert het systeem Fibermetric een snelle terugkeer op investering en een duurzaam concurrerend voordeel.“

Het systeem Fibermetric is beschikbaar nu bij Phenom verkoopagenten en verdelers. Meer informatie is beschikbaar in www.phenom-world.com/fiber.

Last Update: 14. January 2012 09:33

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit