Site Sponsors
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions

Les Technologies d'Agilent Introduit le Microscope Atomique De La Deuxième Génération de Force

Published on April 14, 2009 at 7:59 PM

Agilent Technologies Inc. (NYSE : A) a aujourd'hui annoncé la disponibilité d'un microscope atomique de la deuxième génération de force (AFM) qui peut exceler dans le laboratoire et la classe. L'Agilent 5420 AFM neuf, basé sur 5400 populaires plate-forme d'Agilent, est un instrument à haute précision qui re-a été conçu pour fournir une performance plus à faible bruit et meilleure et une souplesse plus grande.

« Une conception ergonomique neuve, une électronique plus à faible bruit et un bloc optique visuel amélioré sont parmi les fonctionnalités clé qui effectuent aux 5420 un puissant, outil facile à utiliser pour un large éventail de science des matériaux, des polymères, caractérisation électrique et applications extérieures générales de caractérisation, » ont dit Jeff Jones, directeur des opérations pour l'installation de l'AFM d'Agilent dans le Fournisseur, l'Arizona « Cette scientifique-qualité l'AFM fournit la définition d'atomique-échelle très à un prix concurrentiel, ainsi que fournit un chemin simple de mise à jour. »

L'Agilent 5420 donne à des éducateurs une occasion exceptionnelle de présenter leurs élèves à beaucoup de techniques utiles d'AFM ; le microscope sera livré avec un curriculum et des échantillons de cours d'étudiant préparant une licence pour les laboratoires de enseignement. Plusieurs options d'amélioration des performances sont disponibles pour les 5420, y compris un DE X/Y et un Z de boucle ouverte et en boucle bloquée balayeur de 90 microns, un balayeur de boucle ouverte de 9 microns, et un balayeur de 10 microns STM, chacun conçu pour fournir le contrôle optimum de la position de sonde.

Pour la représentation à haute résolution dans le liquide, le Mode breveté de MAC d'Agilent est disponible. Le contrôle thermique de Précision peut être aussi bien ajouté. L'Agilent 5420 est également compatible avec le Mode III de MAC, qui fournit trois utilisateur-configurables verrou-dans des amplificateurs pour avoir les moyens des possibilités pratiquement sans limites d'application, la vitesse sans précédent et la capacité d'utiliser des modes de résonance plus élevés de l'encorbellement.

Une Autre option pour les 5420 est mode de passe simple électrique de microscopie, une technique à faible bruit neuve qui active la haute définition KFM/EFM et PFM. Ce mode permet à des utilisateurs de personnaliser le routage de signe entre le Mode III de MAC verrou-dans des amplificateurs, fournissant une lecture multifréquence plus avancée.

Les 5420 est également compatible avec le seul mode de microscopie d'hyperfréquences de la lecture (SMM) d'Agilent, qui combine le composé, des capacités électriques étalonnées de mesure d'un analyseur de réseau de vecteur d'hyperfréquences avec la résolution spatiale de nanoscale d'un microscope atomique de force. Le Mode de SMM surpasse des techniques AFM-basées traditionnelles de microscopie de capacité de lecture, la souplesse plus grande de offre d'application, la capacité de saisir des résultats quantitatifs, et la dynamique de sensibilité et la plus élevée dans l'industrie.

5420 neufs AFM d'Agilent comporte les mêmes balayeurs, Contrôleur et logiciel de pointe employés par la ligne entière d'Agilent des microscopes atomiques rodés en clientèle de force. Les systèmes Populaires d'Agilent AFM comprennent l'Agilent 5500 sophistiqué, qui offre à leader le contrôle de l'environnement, ainsi que l'Agilent 5600LS, qui versatile active la représentation d'AFM de grands et petits échantillons sur entièrement un adressable, stade hautement programmable de 200mm.

Last Update: 11. January 2012 17:17

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit