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Le Tecnologie di Agilent Presenta il Microscopio Atomico Di prossima generazione della Forza

Published on April 14, 2009 at 7:59 PM

Agilent Technologies Inc. (NYSE: A) oggi ha annunciato la disponibilità di un microscopio atomico di prossima generazione della forza (AFM) che può eccellere sia nel laboratorio che nell'aula. Il nuovo Agilent 5420 AFM, in base ai 5400 popolari piattaforma di Agilent, è uno strumento di alta precisione che ri-è stato costruito per consegnare più a basso rumore, prestazione migliore e maggior versatilità.

“Una nuova progettazione ergonomica, un'elettronica più a basso rumore e un'ottica visiva migliore sono fra le caratteristiche fondamentali che rendono ai 5420 un potente, strumento di facile impiego per una vasta gamma di scienza dei materiali, polimeri, caratterizzazione elettrica ed applicazioni di superficie generali di caratterizzazione,„ hanno detto Jeff Jones, operations manager per la funzione del AFM di Agilent in Fornitore navale, l'Arizona “Questo scientifico-grado AFM consegna la risoluzione del atomico-disgaggio molto ad un prezzo competitivo come pure fornisce un percorso semplice di aggiornamento.„

Il Agilent 5420 offre ad educatori un'opportunità eccezionale di presentare i loro studenti a molte tecniche utili del AFM; il microscopio sarà consegnato con un curriculum ed i campioni di corso dello studente non laureato per i laboratori d'istruzione. Parecchie opzioni che migliora il rendimento sono disponibili per i 5420, compreso un DI X-Y & una Z ad anello aperto ed a circuito chiuso uno scanner da 90 micron, uno scanner ad anello aperto da 9 micron e uno scanner di STM di 10 micron, ciascuno costruito per fornire il controllo ottimale sopra la posizione della sonda.

Per la rappresentazione ad alta definizione in liquido, il Modo brevettato del MACKINTOSH di Agilent è disponibile. Il controllo termico di Precisione può aggiungersi pure. Il Agilent 5420 è egualmente compatibile con il Modo III del MACKINTOSH, che fornisce tre utente-configurabili blocco-in amplificatori per permettere le possibilità virtualmente illimitate dell'applicazione, la velocità senza precedenti e la capacità di usare gli più alti modi di risonanza della trave a mensola.

Un'Altra opzione per i 5420 è il modo elettrico di microscopia del unico passaggio, una nuova tecnica a basso rumore che permette a KFM/EFM e a PFM ad alta definizione. Questo modo permette che gli utenti personalizzino il routing del segnale fra il Modo III del MACKINTOSH blocco-in amplificatori, fornenti lo scansione a più frequenze più avanzato.

I 5420 sono egualmente compatibili con il modo unico di microscopia di microonda dello scansione (SMM) di Agilent, che combina il composto, le capacità elettriche calibrate di misura di un analizzatore di rete di vettore di microonda con la risoluzione spaziale del nanoscale di un microscopio atomico della forza. Il Modo di SMM supera le tecniche AFM basate tradizionali di microscopia di capacità di scansione, versatilità maggior d'offerta dell'applicazione, la capacità acquistare i risultati quantitativi e il più alte sensibilità e gamma dinamica nell'industria.

I nuovi 5420 AFM di Agilent caratterizzano gli stessi scanner, regolatore e software avanzati usati dall'intera riga di Agilent di microscopi atomici campo-provati della forza. I sistemi Popolari di Agilent AFM includono il Agilent 5500 specializzato, che offre il controllo dell'ambiente leader del settore come pure il Agilent 5600LS, che versatile permette alla rappresentazione del AFM sia di grandi che piccoli campioni completamente su un indirizzabile, fase altamente programmabile di 200mm.

Last Update: 11. January 2012 16:15

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