Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions

FRT Presenta il Nuovo Profilometro Ottico alla Mostra 2009 di CONTROLLO

Published on April 30, 2009 at 6:12 AM

FRT presenta un nuovo profilometro a CONTROLLO di quest'anno 2009 a Stuttgart. Il profilatore ottico è stato ottimizzato per la misura non distruttiva delle superfici. Il Profilo di MicroSpy misura la rugosità, il contorno, 3D la topografia, l'altezza di punto, il planarity, la geometria, volume, sopportando l'area di contatto e più con precisione metrologica.

Il nuovo profilatore ottico segue il MicroSpy il Topo, un microscopio confocale premiato che è stato presentato da FRT nel 2008. Come con tutti gli strumenti della metrologia dalla serie di MicroSpy, il nuovo profilometro è facile da operare, adatto a bilancio e potente nella sua prestazione (una risoluzione verticale di fino a 3 nanometri).

Gli strumenti della metrologia di MicroSpy sono strumenti compatti del unico sensore con una x motorizzata di alta precisione, la y-fase e una Telecamera CCD per il posizionamento conveniente del campione. Secondo il sistema, il sensore si avvicina a per mezzo di un asse manuale con grezzo ed aggiustamento di precisione o un z-asse motorizzato.

FRT offre due tecnologie dei sensori in sui strumenti di misura di MicroSpy. Il MicroSpy Topo usa la microscopia confocale, un metodo di misurazione “unico„. Il nuovo profilatore ottico impiega uno riga-scansione, sensore cromatico senza contatto del punto con la sorgente di luce del LED. FRT offre i sensori differenti del punto con i vari campi di misura per permettere a una vasta gamma di applicazioni sulle superfici da riflettente all'assorbimento, da regolare a ruvido o persino a trasparente. Ciò permette all'utente di fornire i risultati che sono soddisfacenti rispetto agli standard stabiliti della metrologia quali BACCANO, l'ISO, i SEMI, ASTM o JIS nel 2D e 3D con accuratezza di nanometro e di micrometro.

Per scoprire più circa gli strumenti della metrologia di FRT MicroSpy e per vedere il nuovo Profilo di MicroSpy, visualizzi FRT a CONTROLLO di quest'anno 2009. (corridoio 7, cabina 7232)

Last Update: 17. January 2012 02:20

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit