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FRT Introduz o Profilometer Óptico Novo na Exposição 2009 do CONTROLE

Published on April 30, 2009 at 6:12 AM

FRT apresenta um profilometer novo no CONTROLE 2009 deste ano em Estugarda. O perfilador óptico foi aperfeiçoado para a medida não-destrutiva das superfícies. O Perfil de MicroSpy mede a aspereza, contorno, 3D topografia, altura da etapa, planarity, geometria, volume, carregando a área de contacto e o mais com precisão metrological.

O perfilador óptico novo segue o MicroSpy Topo, um microscópio confocal vencedor dum prémio que seja introduzido por FRT em 2008. Como com todas as ferramentas da metrologia da série de MicroSpy, o profilometer novo é fácil de operar, orçamento-amigável e poderoso em seu desempenho (uma definição vertical de até 3 nanômetros).

As ferramentas da metrologia de MicroSpy são ferramentas compactas do único-sensor com um x motorizado elevada precisão, y-fase e uma CCD-câmera para o posicionamento conveniente da amostra. Segundo o sistema, o sensor é aproximado por meio de uma linha central manual com ajuste grosseiro e fino ou uma z-linha central motorizada.

FRT oferece duas tecnologias de sensor em suas ferramentas de medição de MicroSpy. O MicroSpy Topo usa a microscopia confocal, um método de medição do “um-tiro”. O perfilador óptico novo emprega uma linha-exploração, sensor cromático do ponto do não-contacto com DIODO EMISSOR DE LUZ luz-Source. FRT oferece sensores diferentes do ponto com várias escalas de medição permitir uma escala de aplicações larga em superfícies de reflexivo ao absorção, de liso a áspero ou mesmo a transparente. Isto permite o usuário de produzir os resultados que são complacentes com padrões estabelecidos da metrologia tais como o RUÍDO, ISO, SEMI, ASTM ou JIS no 2D e 3D com precisão do micrômetro e do nanômetro.

Para encontrar mais sobre ferramentas da metrologia de FRT MicroSpy e ver o Perfil novo de MicroSpy, visite FRT no CONTROLE 2009 deste ano. (salão 7, cabine 7232)

Last Update: 14. January 2012 04:09

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