FRT 介绍新的光学轮廓测定器在控制 2009年陈列

Published on April 30, 2009 at 6:12 AM

FRT 介绍新的轮廓测定器在今年控制 2009年在斯图加特。 光学仿形铣床为表面的非破坏性的评定被优选了。 MicroSpy 配置文件评定坎坷,等高, 3D 地势,步骤高度, planarity,几何,数量,负担联系范围和更多与度量衡学的精确度。

新的光学仿形铣床按照 MicroSpy Topo, FRT 介绍在 2008年的一个得奖的共焦的显微镜。 与从 MicroSpy 串联的所有计量学工具,新的轮廓测定器是容易运行,预算值友好和强大在其性能 (3 毫微米垂直分辨率)。

MicroSpy 计量学工具是有高精密度的动力化的 x、 y 阶段和 CCD 照相机的紧凑单一传感器工具为方便范例确定。 根据这个系统,传感器通过与粗糙的一个手工轴处理和精密调整或者一个动力化的 Z轴。

FRT 提供在其 MicroSpy 评定的工具的二种传感器技术。 MicroSpy Topo 使用共焦的显微学, “一次”测量方法。 新的光学仿形铣床使用线路扫描,有 LED 光源的没有接触的色彩点传感器。 FRT 提供不同的点传感器以多种测定范围启用在表面的各种各样的应用从反射性到吸收,平稳到粗砺甚至透明。 这使这个用户导致与被设立的计量学标准是兼容的例如 DIN, ISO,半, ASTM 或 JIS 在第 2 和 3D 与测微表和毫微米准确性的结果。

要欲知更多关于 FRT MicroSpy 计量学工具和发现新的 MicroSpy 配置文件,请参观 FRT 在今年控制 2009年。 (大厅 7,摊 7232)

Last Update: 14. January 2012 00:55

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