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FRT 介紹新的光學輪廓測定器在控制 2009年陳列

Published on April 30, 2009 at 6:12 AM

FRT 介紹新的輪廓測定器在今年控制 2009年在斯圖加特。 光學仿形銑床為表面的非破壞性的評定被優選了。 MicroSpy 配置文件評定坎坷,等高, 3D 地勢,步驟高度, planarity,幾何,數量,負擔聯繫範圍和更多與度量衡學的精確度。

新的光學仿形銑床按照 MicroSpy Topo, FRT 介紹在 2008年的一個得獎的共焦的顯微鏡。 與從 MicroSpy 串聯的所有計量學工具,新的輪廓測定器是容易運行,預算值友好和強大在其性能 (3 毫微米垂直分辨率)。

MicroSpy 計量學工具是有高精密度的動力化的 x、 y 階段和 CCD 照相機的緊湊單一傳感器工具為方便範例確定。 根據這個系統,傳感器通過與粗糙的一個手工軸處理和精密調整或者一個動力化的 Z軸。

FRT 提供在其 MicroSpy 評定的工具的二種傳感器技術。 MicroSpy Topo 使用共焦的顯微學, 「一次」測量方法。 新的光學仿形銑床使用線路掃描,有 LED 光源的沒有接觸的色彩點傳感器。 FRT 提供不同的點傳感器以多種測定範圍啟用在表面的各種各樣的應用從反射性到吸收,平穩到粗礪甚至透明。 這使這個用戶導致與被設立的計量學標準是兼容的例如 DIN, ISO,半, ASTM 或 JIS 在第 2 和 3D 與測微表和毫微米準確性的結果。

要欲知更多關於 FRT MicroSpy 計量學工具和發現新的 MicroSpy 配置文件,请參觀 FRT 在今年控制 2009年。 (大廳 7,攤 7232)

Last Update: 24. January 2012 15:29

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