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LOT-Oriel kündigt Verfügbarkeit von SPEQUEST für Spectral Response-Charakterisierung von Solarzellen

Published on May 7, 2009 at 7:35 AM

In der heutigen sich schnell entwickelnden Märkte für Solarzellen, ist die Charakterisierung der spektralen Empfindlichkeit (Quanteneffizienz) einer der wichtigsten Parameter für Forschung und Entwicklung neuer Materialien und Geräte, sondern auch für die Produktion und Qualitätskontrolle.

Heute noch 90% der Solarzellen auf der ganzen Welt hergestellt werden einzigen Kreuzung Silizium-Geräte, daher ist das Layout einer spektralen Empfindlichkeit Messsystem ist relativ einfach und unkompliziert. Doch die vielversprechendsten Forschungsgebiete auf verschiedenen Geräten und Materialien, zB Dünnschicht-und 3. Generation Geräte, die ein anderes Layout eines spektralen Empfindlichkeit Charakterisierung System erfordern konzentrieren.

SPEQUEST berücksichtigt die neuesten Entwicklungen in der Solarzellen-Forschung, ermöglicht den modularen und sehr flexiblen Aufbau schnelle und einfache Anpassung an Forschungs-und Produktionsanforderungen.

  • • Komplette schlüsselfertige Lösung für die spektrale Charakterisierung
  • • Modularer Aufbau für maximale Flexibilität
  • • Alle Arten von Solarzellen: Polysilizium-, c-Si, mc-Si, nc-Si
  • • III / V-Verbindungshalbleiter-Zellen: Dünnschicht: CdTe, CIS, CIGS, Si, 3. Generation: organisches Polymer, Farbstoff
  • • Einzel-und Mehrfachsolarzellen Geräte
  • • Spektralbereich 200 - 2500nm
  • • Variable Bias-Licht (weißes Licht oder mehrfarbig)
  • Für weitere Informationen besuchen Sie bitte http://www.lot-oriel.com/site/pages_uk_en/products/spequest/spequest.php oder rufen Sie Shayz Ikram auf 01372 378822, E-Mail shayz@lotoriel.co.uk

Last Update: 31. October 2011 02:56

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