Site Sponsors
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
Posted in | Nanomaterials

Сери-Oriel Объявляет Наличие SPEQUEST для Характеризации Спектральной Реакции Фотоэлементов

Published on May 7, 2009 at 7:35 AM

В сегодняшних быстро эволюционируя рынках для фотоэлементов, характеризация спектральной реакции (эффективности суммы) один из самых важных параметров для научных исследований и разработки новых материалов и приборов но также для продукции и проверки качества.

Сегодня все еще 90% из фотоэлементов изготовленных вокруг мира одиночные приборы кремния соединения; поэтому план системы измерения спектральной реакции относительно прост и прямодушен. Однако, самые перспективнейшие зоны исследования фокусируют на различных приборах и материалах, например тонком фильме и 3-их приборах поколения, которые требуют различного плана системы характеризации спектральной реакции.

SPEQUEST учитывает самые последние развития в исследовании фотоэлемента, модульное и очень гибкое настроение позволяет быстрое и простое приспособление исследовать и требования к продукции.

  • • Завершите полностью готовое разрешение для спектральной характеризации
  • • Модульное настроение для максимальной гибкости
  • • Весь тип фотоэлементов: polysilicon, c-Si, mc-Si, nc-Si
  • • Клетки смеси III/V: тонкий фильм: CdTe, СНГ, CIGS, Si, 3-ее поколение: органический полимер, краска
  • • Определите и приборы multijunction
  • • Спектральный ряд 200 - 2500nm
  • • Свет Переменной систематической ошибки (белый свет или multicolour)
  • Для больше информации пожалуйста пойдите к http://www.lot-oriel.com/site/pages_uk_en/products/spequest/spequest.php или вызовите Shayz Ikram на 01372 378822, электронную почту shayz@lotoriel.co.uk

Last Update: 14. January 2012 06:48

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit