FEI는 현상 전자현미경을 위한 먼 원조를 제안합니다

Published on June 6, 2009 at 9:25 AM

FEI 회사 (NASDAQ: FEIC), 원자 가늠자 화상 진찰과 분석 체계의 주요한 공급자, 오늘 Phenom™ 먼 조수의 즉시 가용성 알렸습니다, 현상 개인적인 스캐닝 전자 현미경 시스템의 먼 추적, 진단 및 수선을 허용하는 새로운 서비스 (SEM) 증진을.

"현상 먼 조수 고치는 감소된 시간을 제공해서 생산력을 강화하고, 시스템의 증가된 신뢰도 그리고 가동 시간,"는 폴 Scagnetti, FEI의 기업 부 부사장과 총관리인을 말했습니다. "FEI 서비스 엔지니어 덕분에 멀게 일어나고 그(것)들을."는 해결하기 전에 우리의 고객 서비스 문제를 예기할 수 있습니다

현상 먼 조수는 먼 진단을 위한 FEI의 안전한 기반인 급류 (대화식 진단을 위한 원격 액세스 프로그램)에 의해 강화됩니다. 급류는 고객과 FEI 서비스 엔지니어 사이 높 안전하고, 암호화한, VPN (가상 전용 네트워크) 연결을 제공합니다. 모든 원격 연결은 현상 측에서 개시됩니다, 그래서 고객은 완전한 통제에서 항상 입니다.

현상 먼 조수는 고객이 현상을 오프라인으로 취하고 봉사 센터에 돌려보내야 할 가능성을 감소시킵니다. FEI 서비스 엔지니어는 멀게 중요한 성과 측정 규정을 한동안 추적하고, 시스템, 검사에 실용 시험 진단을 달리고 질에 접근하고 노련한 작동 통보를 제공하기 위하여 공구 조정 및 전망 현미경 심상 조차 변경할 수 있습니다.

현상 먼 조수는 모든 현상 개인적인 SEMs를 가진 추가 요금에 유효합니다. 현상은 상한 화상 진찰을 실제에게와 교육 사용 모두를 위해 적당한 하는 뿐 아니라 다양한 산업 응용 유일한 화상 진찰 공구입니다. 그것은 통합된 것에 있는 가벼운 광학과 전자 광학적인 기술, 사용하기 편한 현미경 시스템을 결합합니다. 30 초에서 24,000x와 30 nm 해결책 (사람의 모발의 직경 보다는 더 작은 대략 100,000 시간)까지의 제안 확대는 마이크로와 nanoscale 세계에, 현상 문을 엽니다.

Last Update: 14. January 2012 06:08

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