FRT stellt neue optische Schichtdicke Messwerkzeug

Published on June 8, 2009 at 9:59 AM

FRT , ein zuverlässiger Partner für die Industrie bewährten messtechnischen Oberfläche Messsystemen, präsentiert eine neue optische Schichtdicke Messgerät auf der diesjährigen Laser 2009 in München. Die neue MicroSpy FT zerstörungsfrei Beschichtungen, die Maßnahmen transparent oder semi-transparent im sichtbaren und nahen Infrarot-Spektrum des Lichts.

Die einfach zu Schichtdickenmessgerät Tool ist kostengünstig und leistungsstark zugleich. Mit seiner innovativen 3D-Schichtdicke Mapping-Modus, ermöglicht das Tool die Dickenmessung der gesamten Beschichtung Bereiche Visualisierung und Auswertung der Gleichmäßigkeit der Schichtdicke Verteilung sowie klassische Punkt-und Profil-Messungen an der Beschichtung. Darüber hinaus können freitragende Schichten wie Folien, einzelne Filme oder gestapelten Folien auf einem Substrat charakterisiert werden. Das Tool ist in der Forschung und Qualitätskontrolle von innovativen Produkten in den Bereichen eingesetzt Medizin-, Halbleiter-und Mikrosystemtechnik (MST) sowie in der Photovoltaik, Optik und Automotive.

Nach den gegebenen Messaufgabe wird der neue FRT MicroSpy FT mit einem schnellen interferometrischen oder reflektometrisch Schichtdicke Sensor ausgestattet. Eine Auswahl von neun verschiedenen Sensor-Typen mit verschiedenen Lichtquellen, Messfleckgrößen und Dicke Messbereiche bieten eine große Flexibilität für die Messung aller Arten von Beschichtungsmaterialien und Schichtdicken von wenigen Millimetern bis zu 10 Nanometern.

Das neue Tool ist sehr einfach, mit minimalen Schulungsaufwand nutzen. Sein integrierter CCD-Kamera mit Beleuchtung bietet eine Live-Kamerabild des Messbereichs direkt in der Software. Positionierung der Probe wird mit einem Klick auf eine Maustaste über einem motorisierten Präzisions-Tisch mit einem Verfahrweg von 50 mm x 50 mm durchgeführt. Um den Sensor in perfekter Bildschärfe, hat FRT eine hochpräzise z-Achse mit Mikrometer-Auflösung, die normalerweise nur in höchster Qualität optischer Mikroskope ist gefunden enthalten.

Last Update: 6. November 2011 19:51

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