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FRT は新しい光学フィルム厚さの測定のツールを導入します

Published on June 8, 2009 at 9:59 AM

FRT の工業証明された度量衡の表面の測定システムのための信頼されたパートナーはミュンヘンの今年のレーザー 2009 年で、新しい光学フィルム厚さの測定のツールを示します。 ライトの目に見え、ほぼ赤外線スペクトルで透過か半透過新しい MicroSpy FT の非有害手段のコーティング。

使いやすいフィルム厚さの測定のツールは費用有効および同時に強力です。 モードをマップしていて革新的な 3D フィルム厚さがツールは全体のコーティング領域の厚さの測定がコーティングのフィルム厚さの分布、また古典的なポイントおよびプロフィールの測定の均等性を視覚化し、評価するようにします。 なお、ホイルのような自己サポートされたフィルム、基板の単一のフィルムまたはスタックされたフィルムは特徴付けることができます。 ツールは医学の、半導体およびミクロシステムの技術のフィールドの、また photovoltaics、光学および自動車産業の (MST)革新的な製品の研究そして品質管理で使用されます。

ある特定の測定タスクに従って、新しい FRT MicroSpy FT は速い干渉法によるか reflectometric フィルム厚さセンサーが装備されています。 さまざまな光源の 9 つのセンサーのタイプの選択、測定の点サイズおよび厚さの測定範囲は 10 ナノメーターに少数のミリメートルからのいろいろな種類のコーティング材料そしてコーティング厚さの測定のための大きい柔軟性を提供します。

新しいツールは必要な最小のトレーニングと非常に使いやすいです。 照明を用いるその統合された CCD カメラはソフトウェアの測定領域の生きているカメラ映像を直接提供します。 サンプル位置は 50 の mm X の旅行範囲が付いているモーターを備えられた精密表を通したボタンマウスのクリックで 50 の mm 行われます。 完全な焦点にセンサーを置くためには、 FRT は通常最高品質の光学顕微鏡だけにあるマイクロメートルの解像度の高精度の z 軸を含んでいました。

Last Update: 13. January 2012 23:46

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