FRT Introduceert de Nieuwe Optische Dikte van de Film Metend Hulpmiddel

Published on June 8, 2009 at 9:59 AM

FRT, een vertrouwde op partner voor industrie-bewezen metrologische oppervlakte die systemen meet, stelt een nieuwe optische filmdikte voor metend hulpmiddel bij de Laser van dit jaar 2009 in München. Nieuwe MicroSpy VOET meet niet-destructief deklagen die transparant of semi-transparent in het zichtbare en near-infrared spectrum van licht.

De makkelijk te gebruiken filmdikte die hulpmiddel meet is rendabel tezelfdertijd en krachtig. Met zijn innovatieve 3D de afbeeldingswijze van de filmdikte, staat het hulpmiddel de diktemeting van volledige deklaaggebieden toe om de gelijkheid van de distributie van de filmdikte evenals klassieke punt en profielmetingen op de deklaag te visualiseren en te evalueren. Voorts kunnen self-supported films zoals folies, de enige films of de gestapelde films op een substraat worden gekenmerkt. Het hulpmiddel wordt gebruikt in onderzoek en kwaliteitsbeheersing van innovatieve producten op het gebied van medische, halfgeleider en microsystem technologie (MST) evenals in photovoltaics, optica en de automobielindustrie.

Volgens de bepaalde metingstaak, is nieuwe FRT MicroSpy VOET uitgerust met een snelle interferometric of reflectometric sensor van de filmdikte. Een selectie van negen verschillende sensortypes die met diverse lichtbronnen, vlekgrootte meten en de dikte die waaiers meet bieden grote flexibiliteit voor de meting van allerlei deklaagmaterialen en deklaagdikten neer van een paar millimeter aan 10 nanometers aan.

Het nieuwe hulpmiddel is zeer makkelijk te gebruiken met minimum vereiste opleiding. Zijn geïntegreerde CCD-Camera met verlichting verstrekt een levend camerabeeld direct van het het meten gebied in de software. Het plaatsen van de Steekproef wordt gedaan met de klik van een muisknoop door een gemotoriseerde precisielijst met een reiswaaier van 50 mm x 50 mm. Om de sensor in perfecte nadruk te zetten, heeft FRT een high-precision z-as met micrometerresolutie omvat die gewoonlijk in slechts de zeer hoogste kwaliteits optische microscopen wordt gevonden.

Last Update: 14. January 2012 04:27

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit