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首次登记税的推出新的光学薄膜厚度测量工具

Published on June 8, 2009 at 9:59 AM

首次登记税 ,一个值得信赖的合作伙伴为业界公认的计量表面测量系统,提出了一种新的光学薄膜厚度在今年的激光2009年在慕尼黑的测量工具。新MicroSpy金融时报非破坏性的措施,涂料,透明或半透明的可见光和近红外光谱。

易于使用的薄膜厚度测量工具是成本效益和功能强大的,在同一时间。凭借其创新的3D薄膜厚度的映射模式,让整个涂料领域的厚度测量工具,可视化和评估薄膜厚度分布的均匀性,以及古典点和轮廓测量涂层。此外,可以自我支持的电影,如箔,单基板上的薄膜或堆放电影的特点。该工具被用在研究和创新的产品质量控制的领域,医疗,半导体和微系统技术(MST),以及在光电,光学和汽车行业。

根据给定的测量任务,新的汽车首次登记税MicroSpy FT配有一个快速的干涉或光泽的薄膜厚度传感器。选择各种光源九个不同类型的传感器,测量点的大小和厚度测量范围,提供了极大的灵活性测量各种涂层材料和涂层厚度从几毫米下降到10纳米。

新的工具是非常容易使用的最低要求培训。其集成的CCD相机与照明提供了一个直接在软件测量面积的实时摄像机图像。样品定位是通过一个机动的精度表与一个50毫米× 50毫米的旅游范围内点击鼠标按钮。要完美的对焦传感器,汽车首次登记税已经包括了高精度微米分辨率的Z轴,通常只有最高品质的光学显微镜发现。

Last Update: 6. October 2011 16:38

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