FRT 介紹新的光學膠片厚度評定的工具

Published on June 8, 2009 at 9:59 AM

FRT,行業證明的度量衡學的表面測量系統的委託的合作夥伴,存在新的光學膠片厚度評定的工具在今年激光 2009年在慕尼黑。 新的 MicroSpy FT 非破壞性評定塗層透明或半透明在光可視和近紅外光譜。

易用膠片厚度評定的工具同時是有效和強大的。 当其創新 3D 膠片厚度映射模式,工具允許整個塗上的區的厚度評定形象化和評估膠片厚度配電器以及古典點和配置文件評定的公平在塗層。 此外,自支持的影片例如箔,唯一影片或者被堆積的影片在基體可以被分析。 工具用於創新產品研究和質量管理在醫療,半導體和微系統技術領域 (MST)以及在 photovoltaics、光學和汽車製造業。

根據特定評定任務,新的 FRT MicroSpy FT 裝備一個快速干涉測量或 reflectometric 膠片厚度傳感器。 九個不同傳感器類型的選擇與多種光源的,評定的光點直徑和厚度測定範圍為 10 毫微米提供各種各樣的蓋層和塗層厚度的評定的極大的靈活性從一些毫米下來。

新工具是非常易用的與需要的最小的培訓。 其與照明的集成 CCD 照相機提供評定的區的一張活照相機照片直接地在這個軟件。 範例確定完成與點擊鼠標按鈕通過與 50 mm x 的旅行範圍的一張動力化的精確度表 50 mm。 要放置傳感器在理想的重點, FRT 包括與在仅特高質量光學顯微鏡通常被找到的測微表解決方法的一個高精密度的 Z軸。

Last Update: 24. January 2012 18:46

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