SUSS MicroTec的测试系统 ，先进封装，微机电系统，纳米技术，复合半导体硅-在-绝缘体和三维互连市场世界上领先的工艺和检测解决方案的供应商，已推出1MX™技术其晶圆上线射频探针，| Ž |探头®。这项新技术显着提高了高频性能|探头|于尽量减少不必要的信号损耗，反射和串扰，并通过扩展的频率范围。设计增强功能提供了新的水平测量精度表征纳米尺度的射频和微波器件的测试工程师。
在晶圆级测试的RF及微波元件是一个具有挑战性的任务。要做到这一点，工程师们需要连接测量仪器，如矢量网络分析仪（VNA），解释在“同轴传输世界”信号下测设备（DUT），这是在一个“平面传输世界”存在的设备。这两个世界会议在RF晶圆探针的地方。 SUSS MicroTec公司| Ž |探头采用专利技术，以连接这两个世界最低的信号失真和损失金额。此外，强大的设计的| Z |的探头，确保一百万次达阵，远远超过了使用传统技术的晶圆探针，它的晶圆RF工程和生产测试的理想选择。
“|于苏斯，市场营销和产品管理总监|探头的家庭，其无与伦比的使用寿命和良好的接触质量，可靠性和可重复性，提供最低的总体拥有成本，是现在新1MX技术扩大”博士说，斯托扬Kanev MicroTec公司。 “这大大提高了插入损耗和回波损耗射频探测技术之前从未见过的价值观和扩展我们的频率的功能|于|探头高达67 GHz的”
现可提供新的|于|探头。 www.zprobe.info上可以找到有关1MX技术和SUSS MicroTec公司的完整的晶圆RF和微波测试解决方案的更多信息。