Site Sponsors
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D

Lote-Mirador Introduce el Profiler Óptico Sin contacto Xi-100 de la Tecnología de Ambios

Published on June 15, 2009 at 8:11 AM

El Interferómetro Óptico Sin contacto Xi-100 de la Tecnología de Ambios rápidamente y mide exactamente la topografía 3D de superficies en el nivel del nanómetro. Se diseña para el investigador que está interesado en conseguir fecha rápida, repetible de un instrumento que no sea estorbado por los niveles innecesarios de complicación. Rápidamente las áreas de la imagen en escala de micrones a los milímetros y a los únicos ajustes del instrumento son posición y enfoque de la muestra.

Características Principales:

  • Mediciones Rápidas, no destructivas, de 3 dimensiones
  • Operación de la Punta y del lanzamiento
  • Alta resolución, exactitud, y repetibilidad en superficies lisas o ásperas
  • Altamente asequible

Para más información vaya por favor a http://www.lot-oriel.com/site/pages_uk_en/products/xi100/xi100.php o haga contacto con los Jóvenes en 01372 378822, email heath@lotoriel.co.uk del Brezo

Last Update: 14. January 2012 01:19

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit