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Nuevo FE-SEM Combina la Alta resolución y el Análisis por primera vez

Published on July 1, 2009 at 9:12 AM

Carl Zeiss anuncia Hoy una serie de lanzamientos que revisten un rango de las innovaciones del producto y de la aplicación. El comienzo de esta serie es marcado por el microscopio electrónico analítico de exploración de la emisión de campo de la siguiente-generación - el MERLIN™. Este instrumento combina los requisitos hasta ahora contradictorios de la proyección de imagen ultraalta de la resolución y de las capacidades analíticas. Los “Clientes tienen una necesidad de más que apenas las imágenes de alta resolución de sus muestras”, el Dr. Dirk Stenkamp, Pieza de la Tarjeta en Carl Zeiss SMT explican. “Capacidades analíticas únicas nuestros instrumentos proveen de la información máxima con discernimiento máximo”.

Un aspecto clave del nuevo FE-SEM MERLIN™ de Carl Zeiss es de fácil utilización, por ejemplo limpieza "in-situ" de la muestra, remuneración única de la carga o adquisición de la imagen en menos de un minuto.

MERLIN™ - análisis y alta resolución en uno

El MERLIN FE-SEM vence el conflicto entre la resolución de imagen y la capacidad analítica. La base de MERLIN es la olumna aumentada de los GÉMINIS II que, con su sistema doble del condensador, logra una resolución de imagen de 0,8 nanómetros. Una corriente de la muestra de hasta 300 nanoamperes está disponible para los propósitos analíticos tales como energía y espectroscopia de Radiografía dispersiva de la longitud de onda (EDS y WDS), análisis de la difracción de los electrones retrorreflejados (EBSD) o la generación de catodoluminiscencia.

El sistema apoya al utilizador con una amplia gama de soluciones detalladas para las tareas que no se podrían realizar adecuadamente en el pasado. El asiento para este logro ha sido descansado por Carl Zeiss “Sistema de Detección Completo”. Esto consiste en el detector del SE del en-lente para la proyección de imagen superficial, el detector del EsB del en-lente para el contraste material y el detector de AsB para los electrones retrorreflejados extensamente dispersos. Estes último contienen la información específica sobre la orientación cristalina de la muestra.

El sistema único de la remuneración de la carga de MERLIN también permite la proyección de imagen de alta resolución de muestras no-conductoras. Los Electrones que acumulan en la superficie de la muestra son barridos por una tobera fina del nitrógeno. De este modo, el sistema de detección completo de MERLIN puede ser utilizado. Una característica adicional del sistema para la remuneración de la carga es un canal para el oxígeno puro activando la limpieza "in-situ" de la muestra. Dentro de los depósitos de carbón con frecuencia de ocurrencia del compartimiento de vacío se quitan de la superficie de la muestra, así produciendo una imagen importante más quebradiza y contrasty. Ambas opciones permiten que el utilizador concentren en la proyección de imagen y el análisis de la muestra en vez de invertir tiempo y el dinero en la preparación de la muestra.

El nuevo sistema electrónico de MERLIN permiso una configuración flexible del instrumento. Los detectores Adicionales se pueden adaptar rápidamente, permitiendo que el utilizador adapte el sistema a los requisitos cada vez mayor. Además, esta adaptabilidad hace la inversión más futuro-prueba y permite al utilizador beneficiarse en el largo plazo del revelado en curso del detector.

“El nuevo MERLIN, así como el puesto de trabajo apenas recientemente introducido de la Viga transversal del AURIGA personifican perfectamente lo que representan nuestros productos: Información Máxima - el Discernimiento Máximo”, Stenkamp señala. “Y - el mercado puede preveer mucho más las próximas semanas hasta la demostración de M&M y la Conferencia Europea de la Microscopia en Graz, Austria, finales de agosto.”

Last Update: 13. January 2012 23:19

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