Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions

Nieuw FE-SEM Combineert voor het eerst Hoge Resolutie en Analyse

Published on July 1, 2009 at 9:12 AM

Vandaag kondigt Carl Zeiss een reeks lanceringen aan die een waaier van product en toepassingsinnovaties behandelen. Het begin van deze reeks wordt gemerkt door de elektronenmicroscoop van het de emissieaftasten van het volgende-generatie analytische gebied - MERLIN™. Dit instrument combineert de tot nu toe tegenstrijdige vereisten van ultrahoge resolutieweergave en analytische mogelijkheden. De „Klanten hebben een behoefte aan meer dan enkel hoge resolutiebeelden van hun steekproeven“, Dr. Dirk Stenkamp, verklaart het Lid van de Raad in Carl Zeiss SMT. „Met unieke analytische mogelijkheden voorzien onze instrumenten maximuminformatie van maximuminzicht“.

Een zeer belangrijk aspect van nieuw FE-SEM MERLIN™ van Carl Zeiss is het makkelijk te gebruiken, bijvoorbeeld in situ steekproef schoonmaken, unieke lastencompensatie of beeldaanwinst in minder dan één minuut.

MERLIN™ - analyse en hoge resolutie in

MERLIN FE-SEM overwint het conflict tussen beeldresolutie en analytisch vermogen. De kern van MERLIN is verbeterde TWEELING II kolom die, met zijn dubbel condensatorsysteem, een beeldresolutie van 0.8 nanometers bereikt. Een steekproefstroom van zelfs 300 nanoamperes is beschikbaar voor analytische doeleinden zoals energie en golflengte de verbrokkelde spectroscopie van de Röntgenstraal (EDS en WDS), diffractieanalyse van omgekeerde elektronen (EBSD) of het genereren van cathodoluminescence.

Het systeem steunt de gebruiker met een brede waaier van gedetailleerde oplossingen voor taken die niet voldoende in het verleden konden worden uitgevoerd. De fundamenten voor deze voltooiing zijn gelegd door Carl Zeiss het „Volledige Systeem van de Opsporing“. Dit bestaat uit de detector van in-lensSE voor oppervlakteweergave, de in-lensEsB detector voor materieel contrast en de detector AsB voor wijd verspreide omgekeerde elektronen. De laatstgenoemden bevatten specifieke informatie over de kristalrichtlijn van de steekproef.

Het unieke systeem van de lastencompensatie van MERLIN staat ook de high-resolution weergave van niet geleidende steekproeven toe. De Elektronen die op de oppervlakte van de steekproef accumuleren worden weggeveegd door een fijne straal van stikstof. Zo doende, kan het volledige opsporingssysteem van MERLIN worden gebruikt. Een extra eigenschap van het systeem voor lastencompensatie is een kanaal die voor zuivere zuurstof steekproef schoonmaken toelaten het in situ. Binnen de luchtledige kamer worden de vaak voorkomende koolstofstortingen verwijderd uit de steekproefoppervlakte, waarbij een beduidend kernachtiger en contrasty beeld wordt veroorzaakt. Beide opties staan de gebruiker om op de weergave en de analyse van de steekproef de nadruk te leggen in plaats van het investeren van tijd en geld toe in steekproefvoorbereiding.

Het nieuwe elektronische systeem van MERLIN laat een flexibele instrumentenconfiguratie toe. De Extra detectors kunnen snel worden retroactief aangepast, toestaand de gebruiker om het systeem aan het kweken van vereisten aan te passen. Bovendien maakt deze flexibiliteit tot de investering meer toekomstig-bewijs en laat de gebruiker toe om op lange termijn van aan de gang zijnde detectorontwikkeling te profiteren.

„Nieuwe MERLIN, evenals het enkel onlangs geïntroduceerde AURIGA werkstation van de Dwarsligger nemen volkomen wat op onze producten zich voor bevinden: Maximum Informatie - het MaximumInzicht“, Stenkamp wijst op. „En - de markt kan veel meer in de komende weken verwachten tot M&M en de Europese Conferentie van de Microscopie in Graz, Oostenrijk, eind van Augustus.“ toont

Last Update: 14. January 2012 02:16

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit