Site Sponsors
  • Strem Chemicals - Nanomaterials for R&D
  • Park Systems - Manufacturer of a complete range of AFM solutions
  • Oxford Instruments Nanoanalysis - X-Max Large Area Analytical EDS SDD
  • Technical Sales Solutions - 5% off any SEM, TEM, FIB or Dual Beam

Новое FE-SEM Совмещает Высокие Разрешение и Анализ для the First Time

Published on July 1, 2009 at 9:12 AM

Сегодня Карл Zeiss объявляет серию стартов покрывая ассортимент товаров и рационализаторства применения. Старт этой серии маркирован электронным кинескопом скеннирования излучения поля следующего поколени аналитически - MERLIN™. Эта аппаратура совмещает до настоящего времени разноречивые требования ультравысокого воображения разрешения и аналитически возможностей. «Клиенты имеют потребность для больше чем как раз высокие изображения разрешения их образцов», Др. Dirk Stenkamp, Член Доски на Карл Zeiss SMT объясняют. «С уникально аналитически возможностями наши аппаратуры обеспечивают максимальную информацию с максимальной проницательностью».

Ключевой аспект нового FE-SEM MERLIN™ от Карл Zeiss легкий в использовании, например в-situ чистке образца, уникально компенсации обязанности или приеме изображения в меньш чем одной минуте.

MERLIN™ - анализ и высокое разрешение в одном

МЕРЛИН FE-SEM отжимает конфликт между разрешением изображения и аналитически возможностью. Сердечник МЕРЛИНА увеличенная колонка ДЖЕМИНИ II которая, с своей двойной системой конденсатора, достигает разрешения изображения 0,8 нанометров. Течение образца до 300 nanoamperes доступно для аналитически целей как энергия и спектроскопия Рентгеновского Снимка длины волны дисперсивная (EDS и WDS), анализ огибания backscattered электронов (EBSD) или поколение катодолюминесценции.

Системные поддержки пользователь с широким диапазоном детальных разрешений для задач которые не смогли адекватно быть выполнены в прошлом. Учредительство для этого достижения было положено Карл Zeiss «Полной Системой Обнаружения». Это состоит из детектора SE в-объектива для поверхностного воображения, детектора EsB в-объектива для материального контраста и детектора AsB для широко разметанных backscattered электронов. Latter содержат специфическую информацию на ориентировке кристаллов образца.

Уникально система компенсации обязанности МЕРЛИНА также позволяет воображению высок-разрешения непровоящих образцов. Электроны которые аккумулируют на поверхности образца подметены прочь точным двигателем азота. В делать так, полную систему обнаружения МЕРЛИНА можно использовать. Дополнительная характеристика системы для компенсации обязанности канал для чисто кислорода позволяющ в-situ чистке образца. Внутри углистые налеты камеры вакуума часто происходя извлекайте от поверхности образца, таким образом производящ значительно более хрустящее и contrasty изображение. Оба варианта позволяют пользователю сконцентрировать на воображении и анализе образца вместо инвестировать время и деньгам в подготовке образца.

Система МЕРЛИНА новая электронная позволяет гибкую конфигурацию аппаратуры. Дополнительные детекторы можно retrofitted быстро, позволяющ пользователю приспособить систему к растущим требованиям. В добавлении, эта гибкость делает облечением больше будущ-доказательства и позволяет пользователь помочь над долгосрочностью от продолжающийся развития детектора.

«Новый МЕРЛИН, так же, как как раз недавно введенное рабочее место Поперечной балки AURIGA совершенно овеществляют чего наши продукты стоят для: Максимальная Информация - Максимальная Проницательность», Stenkamp указывает вне. «И - рынок не будет мочь надеяться очень больше в приходя неделях до выставки M&M и Европейского Конференции Микроскопии в Граце, Австрии, конец от Август.»

Last Update: 14. January 2012 02:33

Tell Us What You Think

Do you have a review, update or anything you would like to add to this news story?

Leave your feedback
Submit