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Aplicada SEMVision defecto G4 Plataforma de Análisis Galardonado con el Premio editores de prestigio 'Choice mejor producto por la revista SI

Published on July 15, 2009 at 7:57 PM

Applied Materials, Inc. anunció hoy que su Aplicada SEMVision ™ defecto G4 plataforma de análisis ha sido galardonado con el Premio de los Editores de prestigio 'Choice Mejor Producto de Semiconductor International (SI) la revista. La combinación ganadora de tecnología innovadora y rendimiento de la producción-ha demostrado ser la plataforma SEMVision G4 de la herramienta de revisión de defecto de elección de las reglas de diseño de 32 nm y más allá.

Tecnología innovadora y rendimiento de la producción-han demostrado la plataforma Aplicada SEMVision G4 la herramienta de revisión de defecto de elección para las reglas de diseño de 32 nm y más allá. (Foto: Business Wire)

"Los editores" Best Choice Productos programa de premios reconoce los productos, materiales y servicios que han demostrado en el entorno de fabricación ", dijo Laura Peters, editor en jefe de Semiconductor International. "En el proceso de evaluación, los editores de SI a considerar los productos basados ​​en la retroalimentación de los clientes reales en el campo y sólo los más recomendados son honrados cada año."

"Este premio reconoce el tremendo impacto que la tecnología aplicada es SEMVision ha tenido en la industria de los semiconductores", dijo Tom San Dennis, vicepresidente senior y director general de Applied Materials 'Silicon Systems Group. "La calidad de imagen excepcional SEMVision G4 sistema y las capacidades avanzadas de análisis de los materiales son herramientas poderosas para ayudar a los fabricantes de chips comprender y mitigar las causas de los defectos de matar a rendimiento."

El Aplicada defecto Revisar los sistemas SEMVision están diseñados para las aplicaciones de análisis más avanzados, capaces de redetección automática de defectos (ADR) y la clasificación automática de defectos (ADC) de los defectos críticos. Las principales características de la tecnología SEMVision G4 son de su nuevo microscopio electrónico de barrido (SEM) de columna y mejora de perspectivas múltiples SEM sistema de imagen que ofrecen el estado de la técnica de resolución de 2 nm físico para una calidad de imagen sin igual a una tasa de referencia de una revisión de defectos por segundo.

El sistema aplicado SEMVision pionero de revisión automática de defectos en 1998, revolucionando la manera en fábricas de detectar y analizar la información defecto. Durante los últimos diez años, la tecnología SEMVision ha proporcionado la capacidad de permitir a la industria, con más de 700 sistemas instalados en sitios de clientes en todo el mundo. Este es el premio SI tercio de la tecnología aplicada es SEMVision, comenzando con el sistema de SEMVision primera vez en 2000 y continuando con el FIB SEMVision G2 en el año 2005.

Applied Materials, Inc. (Nasdaq: AMAT) es el líder global en soluciones de nanofabricación Technology ™ con una amplia cartera de innovadores equipos de servicios y productos de software para la fabricación de chips semiconductores, pantallas planas, células solares fotovoltaicas, la electrónica flexible y energía vidrio eficiente. En Applied Materials, aplicamos tecnología de nanofabricación para mejorar la manera de vivir.

Last Update: 5. October 2011 20:41

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